考题
测定环境引入的随机误差，可通过()来消除A.对照分析B.空白试验C.增加平衡试验D.校正仪器
考题
测定环境引入的随机误差，可通过()来消除。A.对照分析B.空白试验C.增加平行试验D.校正仪器
考题
由于试剂中含有干扰杂质或溶液对器皿的侵蚀等所产生的系统误差，可通过空白试验来消除此题为判断题(对，错)。
考题
为了判断某分析方法的准确度和分析过程中是否存在系统误差，应采取( )。A.空白试验B.回收试验C.对照试验D.平行测定
考题
在滴定分析中，（）可导致系统误差。A.试剂未充分混匀B.滴定终点判断不准C.试剂中含有微量干扰离子D.平行试验次数不够
考题
试剂和器皿带进杂质所造成的误差可用（）消除。A对照试验B空白试验C校正试验
考题
由于试剂中含有干扰杂质或溶液对器皿的侵蚀等所产生的系统误差，可通过空白试验来消除。A对B错
考题
试验过程中，通过（）可以检查试剂和器皿所引入的系统误差。A、对照试验；B、空白试验；C、回收实验；D、增加试验次数。
考题
定量分析某试样中，若要消除测定过程中的系统误差，可采取的措施是（）。A、做对照试验B、做空白试验C、增加平行测定次数D、增加试剂用量
考题
（）不是减少系统误差的方法。A、进行对照试验B、进行空白试验C、提纯试剂D、增加平行试验
考题
减少系统误差的方法有（）A、进行对照试验B、进行空白试验C、提纯试剂D、校准仪器、量具E、增加平行试验
考题
消除或减小试剂中微量杂质引起的误差常用的方法是（）A、空白试验B、对照试验C、平行试验D、校准仪器
考题
采用空白试验可以消除试剂和器皿带来杂质的系统误差
考题
试验过程中，通过（）主要可以检查试剂和器皿所引入的系统误差。A、对照试验；B、空白试验；C、回收试验；D、增加试验次数。
考题
通过（）可以检查试剂和器皿所引入的系统误差。A、对照试验B、空白试验C、回收试验D、增加试验次数
考题
空白试验可以消除试剂和器皿带来杂质的系统误差。
考题
空白试验是消除由试剂和器皿带进杂质所造成的系统误差
考题
蒸馏水、试剂和器皿带进杂质所造成的系统误差，一般可作（）来扣除。A、对照试验B、校准仪器C、选择合适方法D、空白试验
考题
由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差，应通过（）来消除。A、对照分析B、空白试验C、增加平行试验D、校正仪器
考题
测定环境引入的随机误差，可通过（）来消除。A、对照分析B、空白试验C、增加平行试验D、校正仪器
考题
由于试剂中含有干扰杂质或溶液对器皿的侵蚀等所产生的系统误差，可通过空白试验来消除。
考题
消除系统误差的方法有（）。A、空白试验B、对仪器进行校准C、增加平行试验次数D、对照试验
考题
空白试验是用来消除由试剂和器皿带进杂质所造成的系统误差的。
考题
单选题由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差，应通过（）来消除。A
对照分析B
空白试验C
增加平行试验D
校正仪器
考题
判断题由于试剂中含有干扰杂质或溶液对器皿的侵蚀等所产生的系统误差，可通过空白试验来消除。A
对B
错
考题
单选题测定环境引入的随机误差，可通过（）来消除。A
对照分析B
空白试验C
增加平行试验D
校正仪器
考题
单选题（）不是减少系统误差的方法。A
进行对照试验B
进行空白试验C
提纯试剂D
增加平行试验
