考题
可以减少偶然误差的方法是()
A、进行仪器校正B、作对照试验C、作空白试验D、增加平行测定次数
考题
可用于减少测定过程中的偶然误差的方法是 :()
A.进行对照试验;B.进行空白试验;C.进行仪器校准;D.增加平行试验的次数
考题
减少分析方法中偶然误差的方法可采用A、进行空白试验B、加校正值的方法C、进行对照试验D、增加平行测定次数E、进行回收试验
考题
由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差，应通过()来消除。A.对照分析B.空白试验C.增加平行试验D.校正仪器
考题
减少分析测定中偶然误差的方法为
A.进行对照试验
B.进行空白试验
C.进行仪器校准
D.进行分析结果校正
E.增加平行试验次数
考题
可用下列哪种方法减少测定中的偶然误差（）。A进行对照试验B空白试验C增加平行试验次数D进行仪器校正
考题
在下列方法中可以减少分析中偶然误差的是（）.A、增加平行试验的次数B、进行对照实验C、进行空白试验
考题
减少分析测定中偶然误差的方法为（）。A、进行对照试验B、进行空白试验C、进行仪器校准D、增加平行试验次数
考题
可用下述那种方法减少滴定过程中的偶然误差（）。A、进行对照试验B、进行空白试验C、进行仪器校准D、增加平行测定次数
考题
减少分析测定中偶然误差的方法为（）。A、进行对照试验B、进行空白试验C、进行仪器校准D、进行分析结果校正E、增加平行试验次数
考题
减少系统误差的方法有（）A、进行对照试验B、进行空白试验C、提纯试剂D、校准仪器、量具E、增加平行试验
考题
在下列方法中可以减少分析中偶然误差的是（）。A、增加平行试验的次数B、进行对照实验C、进行空白试验D、进行仪器的校正
考题
消除系统误差的方法有（）。A、增加平行测定的次数B、做空白试验C、校正仪器D、做对照试验
考题
可用于减少测定过程中的偶然误差的方法是（）A、进行对照试验B、进行空白试验C、进行仪器校准D、增加平行试验的次数
考题
下列方法中（）可以减少分析中的偶然误差。A、进行空白试验B、进行对照试验C、仪器进行校正D、增加平行测定次数
考题
用于减少测定过程中的偶然误差的方法是（）。A、进行对照试验B、进行空白试验C、进行仪器校正D、增加平行试验次数E、进行分析结果校正
考题
在下列方法中可以减少分析中系统误差的是（）A、增加平行试验的次数B、进行对照实验C、进行空白试验D、进行仪器校正
考题
由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差，应通过（）来消除。A、对照分析B、空白试验C、增加平行试验D、校正仪器
考题
消除系统误差的方法有（）。A、空白试验B、对仪器进行校准C、增加平行试验次数D、对照试验
考题
多选题消除系统误差的方法有（）。A空白试验B对仪器进行校准C增加平行试验次数D对照试验
考题
单选题减少分析方法中偶然误差的方法可采用（）A
进行空白试验B
加校正值的方法C
进行对照试验D
增加平行测定次数E
进行回收试验
考题
单选题可用哪种方法减少分析测试中的偶然误差（）A
进行对照试验B
进行空白试验C
增加平行试验的次数D
进行仪器的校准
考题
单选题由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差，应通过（）来消除。A
对照分析B
空白试验C
增加平行试验D
校正仪器
考题
单选题减少分析测定中偶然误差的方法为（）。A
进行对照试验B
进行空白试验C
进行仪器校准D
进行分析结果校正E
增加平行试验次数
考题
多选题在下列方法中可以减少分析中系统误差的是（）A增加平行试验的次数B进行对照实验C进行空白试验D进行仪器校正
考题
单选题（）不是减少系统误差的方法。A
进行对照试验B
进行空白试验C
提纯试剂D
增加平行试验
考题
多选题减少系统误差的方法有（）A进行对照试验B进行空白试验C提纯试剂D校准仪器、量具E增加平行试验
