考题
在一定探伤灵敏度下，从探测面到最近可探缺陷在被检工件中的深度，称为()。A、水平线性B、盲区C、动态范围D、灵敏度余量
考题
超声波探伤检验时，当探测横向缺陷时，应将各线灵敏度提高（）dB。A、6B、10C、12
考题
磁粉探伤只适用于探测铁磁性材料和工件的缺陷。
考题
纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时回波（），远离侧壁探测时回波（）。
考题
在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
考题
在锻件探伤中，出现草状回波的原因主要是由于（）A、工件内有大缺陷B、灵敏度过高C、晶粒粗大和树枝状结晶
考题
在锻件探伤中，出现草状回波的原因很有可能是由于（）A、工件内有大缺陷B、灵敏度过高C、晶粒粗大和树枝状结晶
考题
纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时（），远离侧壁探测时（）。
考题
利用工件底波校准检测灵敏度，由于是同材质，所以在对缺陷定量时不需考虑材质衰减。
考题
渗透探伤时，由于表面污物会影响探伤灵敏度和探伤效果，因此必须进行（）。
考题
灵敏度是指声探伤系统所具有的探测（）的能力。A、最小缺陷B、最大缺陷C、任何缺陷D、以上都是
考题
在轴件探伤中，出现草状回波的原因很有可能是由于（）。A、工件内有大缺陷B、灵敏度过高C、晶粒粗大和树枝状结晶D、以上都不对
考题
灵敏度是指声探伤系统所具有的探测最小缺陷的能力。
考题
下列关于X射线探伤的作用正确的是（）。A、可探测内部缺陷B、只能探测表面缺陷C、只能探测金属工件D、可探测金属.非金属工件
考题
在正常探伤灵敏度下，从探测表面到最近可探缺陷的距离，称为仪器的（）。
考题
渗透探伤时，由于表面污物会影响探伤灵敏度和探伤效果，因此必须进行表面预清洗。
考题
手工超探，每个工件探测完毕后，在车轮辐板内侧面上画出明显的超声波探伤检查标记“U”；发现车轴有缺陷时，应使用白铅油做出标记，注明缺陷性质和位置。
考题
在实际探伤中，若以试块上某一深度的人工反射体调整好的灵敏度去探测工件时，必须再加上工件与试块表面耦合损耗dB差值就称为（）。
考题
校正直探头探伤灵敏度的基准缺陷型式通常是（）或平底工件。
考题
在工业设备的各种无损探伤方法中，（）可以探测工件内部的缺陷，主要用于检验焊缝中有无气孔、夹渣、裂纹、未焊透等缺陷。A、超声波探伤B、磁粉探伤C、荧光探伤D、着色探伤
考题
纵波垂直法探伤中，由于（）的结果，靠近侧壁探测时缺陷回波低，远离侧壁探测时缺陷回波高。A、侧壁干涉B、波的叠加C、波的绕射D、波的衍射
考题
单选题在锻件探伤中，出现草状回波的原因主要是由于（）A
工件内有大缺陷B
灵敏度过高C
晶粒粗大和树枝状结晶
考题
单选题下列关于X射线探伤的作用正确的是（）。A
可探测内部缺陷B
只能探测表面缺陷C
只能探测金属工件D
可探测金属.非金属工件
考题
单选题用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）A
尽可能靠近侧壁；B
离侧壁10mm；C
离侧壁一个探头直径的距离处；D
离侧壁二个探头直径的距离处。
考题
填空题纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时回波（），远离侧壁探测时回波（）。
考题
填空题纵波垂直法探伤中，由于侧壁干涉的结果，侧面壁附近的缺陷，靠近侧壁探测时（），远离侧壁探测时（）。
考题
判断题利用工件底波校准检测灵敏度，由于是同材质，所以在对缺陷定量时不需考虑材质衰减。A
对B
错
