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判断题
利用工件底波校准检测灵敏度，由于是同材质，所以在对缺陷定量时不需考虑材质衰减。
A

对

B

错

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考题 利用试块法校准检测灵敏度的优点是（）。A、 校准方法简单B、 适用对缺陷小于3N的锻件C、 可以克服检测面形状对灵敏度的影响D、 不必考虑材质差异
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考题 用底波调节法校准锻件检测灵敏度时,下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的。 （）。     A、 可不考虑检测耦合差补偿B、 缺陷定量可采用计算法或AVG曲线法C、 可不使用试块D、 缺陷定量可不考虑衰减差修正
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考题 用直探头检测锻件时，引起底波明显降低或消失的因素是（）。A、 底面与检测面不平行B、 工件内部有倾斜的大缺陷C、 工件内部有材质率减大的部位D、 以上都对
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考题 厚度均为400mm但材质衰减不同的两个锻件，各自采用底波校正灵敏度（Φ2mm平底孔），在工件中间相同声程处发现相同波高的缺陷，则（）A、两个缺陷当量相同B、衰减大的锻件中缺陷当量小C、衰减小的锻件中缺陷当量小D、不一定
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考题 利用工件底波校准检测灵敏度，由于是同材质，所以在对缺陷定量时不需考虑材质衰减。
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考题 用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上都有可能
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考题 用底波法校准灵敏度时，如底面粗糙或粘有水迹，将会使底波降低，这样利用底波校准的灵敏度将会降低，缺陷定量将会偏小。
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考题 用底波法调节锻件探伤灵敏度时，下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的？（）A、可不考虑探伤面耦合差补偿B、可采用计算法或AVG曲线法C、可不使用试块D、可不考虑材质衰减修正
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考题 用AVG方法进行定量评定时，不考虑材质衰减的缺陷定量结果比考虑材质衰减的缺陷定量结果偏大
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考题 用试块校准工件的探伤灵敏度时，需考虑的主要修正为（）。A、表面光洁度的修正B、材质衰减的修正C、反射体深度的修正
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考题 判断题锻件利用试块法校准灵敏度主要应用于无底波、厚度尺寸小于3N的工件检测。A 对B 错
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考题 单选题用底波法调节锻件探伤灵敏度时，下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的？（）A 可不考虑探伤面耦合差补偿B 可采用计算法或AVG曲线法C 可不使用试块D 可不考虑材质衰减修正
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考题 单选题在检验工件时，引起底波明显降低或消失的因素有：（）A 工件内部存在倾斜的大缺陷B 工件内部存在疏松缺陷C 工件内部存在材质衰减大的部位D 以上都是
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考题 判断题材质和超声频率给定时，横波对小缺陷的检测灵敏度高于纵波。A 对B 错
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考题 单选题厚度均为400mm但材质衰减不同的两个锻件，各自采用底波校正灵敏度（Φ2mm平底孔），在工件中间相同声程处发现相同波高的缺陷，则（）A 两个缺陷当量相同B 衰减大的锻件中缺陷当量小C 衰减小的锻件中缺陷当量小D 不一定
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考题 判断题用底波法校准灵敏度时，如底面粗糙或粘有水迹，将会使底波降低，这样利用底波校准的灵敏度将会降低，缺陷定量将会偏小。A 对B 错
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考题 单选题用直探头检测锻件时，引起底波明显降低或消失的因素是（）。A  底面与检测面不平行B  工件内部有倾斜的大缺陷C  工件内部有材质率减大的部位D  以上都对
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考题 判断题用连续法检测时，检测灵敏度几乎不受被检工件材质的影响，仅与被检工件表面磁场强度有关。A 对B 错
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考题 判断题用连续法检测时，检测灵敏度不仅与被检工件表面磁场强度有关，还受被检工件材质的影响。A 对B 错
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考题 单选题用底波调节法校准锻件检测灵敏度时,下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的。 （）。A  可不考虑检测耦合差补偿B  缺陷定量可采用计算法或AVG曲线法C  可不使用试块D  缺陷定量可不考虑衰减差修正
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考题 单选题利用试块法校准检测灵敏度的优点是（）。A  校准方法简单B  适用对缺陷小于3N的锻件C  可以克服检测面形状对灵敏度的影响D  不必考虑材质差异
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考题 单选题用试块校准工件的探伤灵敏度时，需考虑的主要修正为（）。A 表面光洁度的修正B 材质衰减的修正C 反射体深度的修正
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考题 单选题用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A 底面与探伤面不平行B 工件内部有倾斜的大缺陷C 工件内部有材质衰减大的部位D 以上都有可能
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考题 单选题用AVG方法进行定量评定时，不考虑材质衰减的缺陷定量结果比考虑材质衰减的缺陷定量结果（）A 偏大B 相同C 偏小D 在允许的误差范围以内
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