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纵波垂直法探伤中,由于()的结果,靠近侧壁探测时缺陷回波低,远离侧壁探测时缺陷回波高。

  • A、侧壁干涉
  • B、波的叠加
  • C、波的绕射
  • D、波的衍射

参考答案

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考题 按JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定的对缺陷自身高测定方法是依据:() A.端部最大回波和端点衍射波法是利用回波高度B.端部最大回波法和端点衍射波法是利用回波延迟时间差C.端部最大回波法和半波高度法是利用回波高度D.半波高度法和端点衍射波法是利用回波延迟时间差

考题 长轴类锻件从端面作轴向超声波探测时,容易出现的非缺陷回波是()。 A、三角反射波B、61°反射波C、轮廓回波D、迟到波

考题 被探钢板厚度为19毫米,探测时,当波形出现叠加效应,则对缺陷的评价应以()为据A.F1回波的大小 B.F2回波的大小 C.B1回波的大小 D.以上都不对

考题 长轴类锻件从端面做轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()A.三角反射波 B.61°反射波 C.轮廓回波 D.迟到波

考题 纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时回波(),远离侧壁探测时回波()。

考题 纵波直探头在检测工件时,有时会产生侧壁干涉。侧壁干涉对检测结果的影响()。A、 影响缺陷的定量B、 影响缺陷的定位C、 影响缺陷的定量 、定位D、 检测结果评级的影响

考题 纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时(),远离侧壁探测时()。

考题 在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置,其原因是()。A、探头太大,无法移至边缘B、侧壁反射波发生干涉C、频率太高D、以上都不是

考题 检测厚钢板采用垂直法探伤时,根据()前后产生的回波情况进行缺陷评定。A、第一次底波B、第二次底波C、多次底波D、缺陷的水平距离

考题 长轴类锻件从端面作轴向检测时,容易出现的非缺陷回波是()A、三角反射波B、61°反射波C、轮廓回波D、迟到波

考题 长轴类锻件从端面作轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()。A、迟到波B、61°反射波C、材料晶界回波D、以上都不对

考题 在探测工件侧壁附近的缺陷时,由于存在着(),所以探伤灵敏度会明显偏低。A、侧壁干扰B、61°角反射波C、工件底面不平D、以上都对

考题 钢板探伤中可根据()判断缺陷是否存在。A、参考回波减弱B、缺陷回波C、底波D、以上都对

考题 被探钢板厚度为19㎜,探测时,当波形出现叠加效应,则对缺陷的评价应以()为据。A、F1回波的大小B、F2回波的大小C、B1回波的大小D、以上都不对

考题 有缺陷存在,但在仪器示波屏上不显示缺陷回波的探伤方法称为()。A、反射法B、穿透法C、连续波法D、闭波法

考题 盲区最小的探伤方法是()A、缺陷回波法B、底面多次回波法C、透过波高度法D、表面波法

考题 长轴类锻件从端面作轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()。A、三角反射波B、61度反射波C、轮廓回波D、迟到波

考题 在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在()。A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱C、底波或参考回波的消失D、接收探头接收到的能量的减弱

考题 有体积状缺陷存在,但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法,可能是:()A、垂直法B、表面波法C、斜射法D、穿透法

考题 有缺陷存在,但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法,称为()。A、垂直法B、表面波法C、斜射法D、穿透法

考题 单选题有缺陷存在,但在仪器示波屏上不显示缺陷回波的探伤方法称为()。A 反射法B 穿透法C 连续波法D 闭波法

考题 填空题纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时(),远离侧壁探测时()。

考题 单选题有缺陷存在,但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法,称为()。A 垂直法B 表面波法C 斜射法D 穿透法

考题 单选题长轴类锻件从端面作轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()。A 三角反射波B 61度反射波C 轮廓回波D 迟到波

考题 填空题纵波垂直法探伤中,由于侧壁干涉的结果,侧面壁附近的缺陷,靠近侧壁探测时回波(),远离侧壁探测时回波()。

考题 单选题在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置,其原因是()。A 探头太大,无法移至边缘B 侧壁反射波发生干涉C 频率太高D 以上都不是

考题 单选题盲区最小的探伤方法是()A 缺陷回波法B 底面多次回波法C 透过波高度法D 表面波法