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纵波垂直法探伤中,由于()的结果,靠近侧壁探测时缺陷回波低,远离侧壁探测时缺陷回波高。
- A、侧壁干涉
- B、波的叠加
- C、波的绕射
- D、波的衍射
参考答案
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考题
按JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定的对缺陷自身高测定方法是依据:()
A.端部最大回波和端点衍射波法是利用回波高度B.端部最大回波法和端点衍射波法是利用回波延迟时间差C.端部最大回波法和半波高度法是利用回波高度D.半波高度法和端点衍射波法是利用回波延迟时间差
考题
单选题盲区最小的探伤方法是()A
缺陷回波法B
底面多次回波法C
透过波高度法D
表面波法
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