考题
在现场测量小电容量试品的介损tgδ值时，使测量结果引入诸多误差的外界因素主要指哪些？
考题
当测到DW8—35断路器合闸对地的介损tgδ若超过规程规定，则可认为该相两支电容套管的tgδ值也超过规程值。
考题
衡量漆包线电性能的主要参数有（）、（）和介损因素等。
考题
一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。
考题
电介质的介电性能包括（）A、极化B、损耗C、绝缘D、绝缘强度
考题
为了使制造的电容器体积小、质量轻，在选择电介质时，要求其介电系数小。
考题
当设备各部分的介质损耗因数差别较大时，其综合的g∮值接近于并联电介质中电容量最大部分的介质损耗数值。
考题
在绝缘预防性试验中，tgδ是基本测试项目，当绝缘受潮或劣化时，tgδ急剧上升。绝缘内部是否普遍局部放电，也可以通过测介损与电压的关系曲线加以判断。
考题
当被试品电容量很小，测量其介损tgδ时，介损仪的高压引线与被试品的杂散电容对测量的影响不可忽视。
考题
绝缘体有缺陷时，其介损tgδ将随试验（）升高而变（）。
考题
分别测得几个试品的介损值为tgδ1、tgδ2„„tgδn，则并联在一起测得的介损值为这些值中的（）。A、最小值B、平均值C、最大值D、介于最大与最小值之间
考题
在现场测量介损tgσ时，如果试验电源的电压波形不好，含有较大的（）分量，则电桥很难（）。
考题
测量变压器整体对地介损tgδ，可采用介损仪正接线及反接线。
考题
在一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。
考题
当设备各部分的介质损耗因数差别较大时，其综合的tgδ值接近于并联电介质中电容量最大部分的介质损耗数值。
考题
电环境温度为20℃，测得220kV断路器油纸绝缘并联电容器介质损tgδ值为0.4%。
考题
当标准电容器有很大的介损时，实测试品（绝缘）介损一定为负值。
考题
在现场测量介损tgδ时，如果试验电源的电压波形不好，含有较大的（）分量，则电桥很难（）。在与电气化铁路距离较近的变电站测量介损tgδ时上述情况尤为严重。
考题
用QS1交流电桥测量介损tgδ出现负值的主要原因是磁场干扰。
考题
在现场采用介损仪测量设备的介损tgδ时，若存在电场干扰，则在任意测试电源极性的情况下，所测得tgδ值一定比真实的tgδ增大。
考题
用反接线方式，测量一台110kV电流互感器主绝缘介损tgδ，如介损仪本体接地不良，与其介损测量结果无关。
考题
电介质基本性能包括介电性能（）、（）、（）、（）。
考题
测量一台110kV电力变压器，高压绕组对中+低压绕组及地介损损tgδ，当tgδ不合格时，一般表明其高压套管tgδ不合格。
考题
进行绝缘介损测量时，当标准电容受潮而有较大介损时会使实测绝缘介损减少。（）
考题
填空题在现场测量介损tgσ时，如果试验电源的电压波形不好，含有较大的（）分量，则电桥很难（）。
考题
判断题当设备各部分的介质损耗因数差别较大时，其综合的g∮值接近于并联电介质中电容量最大部分的介质损耗数值。A
对B
错
考题
判断题在一般情况下，介损tgδ试验主要反映设备绝缘整体缺陷，而对局部缺陷反映不灵敏。A
对B
错
