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X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。

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考题 X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积增大时,谱线的强度()。 A、增大B、减小C、不变
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考题 在制备可磨性试样时,可以由小于3mm粒度的煤样来制备试样。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 加工冲击试样如不同制备试样标准，可采取宽度为（）mm或5mm等小尺寸试样。
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考题 X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。A、计算法B、实验C、作图法D、回归方程
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考题 X荧光定量分析方法从样品制备的角度出发，可分为（）、熔融法、固体试样法、薄试样法。
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考题 X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
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考题 荧光样品制备注意事项有（）。A、试样代表性B、试样均匀性C、试样洁净度D、标准样品与未知样品的制备方法须一致
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考题 X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
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考题 把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
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考题 以下说法错误的是（）A、X射线荧光光谱分析时，枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时，严禁雨天在室外进行光谱分析工作，避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时，严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时，人和机器要有防坠装置
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考题 X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是（）A、电极污染B、强光直射C、试样表面没有打磨D、以上都是
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考题 X射线荧光光谱仪，激发光源采用X射线，试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。
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考题 不需要标准试块校验、不受现场限制、不需要切割试样且试样表面不损坏的光谱分析方法是（）A、看谱分析B、手持X射线荧光光谱分析C、手持激光诱导击穿光谱分析D、光电直读光谱分析
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考题 在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（）A、有代表性B、试样均匀C、表面平整、光洁、无裂纹D、试样有足够厚度，不变形
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考题 制备红外光谱分析固体试样时，不可用（）压片。A、萘B、KBrC、KID、KCl
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考题 简述X射线荧光光谱分析的优点。
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考题 X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
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考题 X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、连续光谱C、带状光谱D、散射线
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考题 X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、散射线C、带状光谱D、连续光谱
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考题 X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。A、X射线管B、晶体C、探测器
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考题 红外光谱法试样可以是（）。A、水溶液B、含游离水C、含结晶水D、不含水
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考题 进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
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考题 岩石可以是固态的，也可以是液态的。
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考题 判断题X射线荧光光谱仪，激发光源采用X射线，试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。A 对B 错
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考题 判断题岩石可以是固态的，也可以是液态的。A 对B 错
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考题 单选题X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是（）A 电极污染B 强光直射C 试样表面没有打磨D 以上都是
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考题 单选题不需要标准试块校验、不受现场限制、不需要切割试样且试样表面不损坏的光谱分析方法是（）A 看谱分析B 手持X射线荧光光谱分析C 手持激光诱导击穿光谱分析D 光电直读光谱分析
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