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X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。

  • A、特征光谱
  • B、连续光谱
  • C、带状光谱
  • D、散射线

参考答案

更多 “X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、连续光谱C、带状光谱D、散射线” 相关考题
考题 下列关于能量传递复合型荧光染料的描述，错误的是 ( )A、用化学方法将两种不同的激发波长的染料结合B、通过一个荧光染料被激发后产生的发射波长激发另一荧光染料产生荧光信号C、主要用于同一激光束激发分析单个细胞分子的多参数资料提供更方便科学的手段D、主要用于对同一激光束激发分析多个细胞分子的多参数资料提供更方便科学的手段E、利用488nm波长激发光照射
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考题 在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
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考题 X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步：第一步是利用入射量子的能量激发，第二步则是以特征X射线（荧光）的形式放出能量。
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考题 在以X射线管作为激发电源时，用于激发样品的主要光源是（）。
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考题 X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
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考题 X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性
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考题 X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是（）A、电极污染B、强光直射C、试样表面没有打磨D、以上都是
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考题 X射线荧光光谱仪，激发光源采用X射线，试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。
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考题 在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（）A、有代表性B、试样均匀C、表面平整、光洁、无裂纹D、试样有足够厚度，不变形
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考题 X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
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考题 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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考题 X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。A、粒度效应B、吸收C、增强D、矿物效应
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考题 X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
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考题 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
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考题 在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光
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考题 X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
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考题 X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、散射线C、带状光谱D、连续光谱
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考题 在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线
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考题 试样受X射线照射后，其中各元素原子的（）被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线，或称为X射线荧光。A、外层电子B、内层电子C、原子D、高能电子
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考题 X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中连续光谱是构成（）的主要成分。A、激发B、叠加C、散射D、背景
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考题 实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射，下列能够产生X射线的仪器是（）。A、X射线衍射仪B、721分光光度计C、X射线荧光分析仪D、气相色谱
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考题 用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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考题 问答题特征X射线和荧光X射线产生的机理有何异同？某物质的K系荧光X射线是否等于它的K系特征X射线？
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考题 判断题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。A 对B 错
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考题 判断题X射线荧光光谱仪，激发光源采用X射线，试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。A 对B 错
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考题 单选题用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A 内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B 内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C 内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D 两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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考题 问答题分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；（2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；（3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
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