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X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。

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考题 简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
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考题 在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
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考题 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。
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考题 X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性
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考题 X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
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考题 在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应
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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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考题 X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
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考题 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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考题 X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
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考题 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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考题 X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度
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考题 X射线荧光光谱仪上，采用W靶X射线管适于分析重元素：Cr靶X射线管适于分析轻元素，而（）靶X射线管则在一定程度上，却对轻、重元素的分析都能兼顾。
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考题 影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的（）、（）两类。
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考题 X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
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考题 简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？
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考题 X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、连续光谱C、带状光谱D、散射线
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考题 X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、散射线C、带状光谱D、连续光谱
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考题 在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线
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考题 试样受X射线照射后，其中各元素原子的（）被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线，或称为X射线荧光。A、外层电子B、内层电子C、原子D、高能电子
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考题 X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
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考题 用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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考题 用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
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考题 问答题简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
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考题 判断题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。A 对B 错
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考题 问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么？X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍（B）—铀（U），为什么不能分析轻元素（氢、氦和锂）？
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考题 单选题用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A 内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B 内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C 内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D 两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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