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X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。

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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对，错)。
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考题 X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）.A、部分元素的含量B、全部元素的含量C、矿物含量
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考题 在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
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考题 X射线荧光采用内标法分析时选择内标的原则有哪些？
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考题 X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
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考题 X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性
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考题 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
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考题 X荧光光谱、ICP光谱、原子吸收光谱分析方法的特点是既可测量低含量元素，又可以准确测量高含量元素。
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考题 X射线光谱定量分析方法有（）。A、标准加入法B、内标法C、标准曲线法D、增量法
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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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考题 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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考题 X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
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考题 散射背景内标法大多用在分析轻基体中低含量重元素。
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考题 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
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考题 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
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考题 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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考题 X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度
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考题 X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱
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考题 发射光谱定量分析相对强度法（内标法）对内标元素有什么要求？
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考题 X射线荧光光谱仪上，采用W靶X射线管适于分析重元素：Cr靶X射线管适于分析轻元素，而（）靶X射线管则在一定程度上，却对轻、重元素的分析都能兼顾。
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考题 在X荧光内标元素加入法中，对于原子序数（Z）大于23号的待测元素的Kα线，原子序数为的（）元素是理想的内标元素。
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考题 试说明光谱定量分析中选择内标元素与内标线的原则。
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考题 用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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考题 用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
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考题 判断题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。A 对B 错
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考题 问答题试说明光谱定量分析中选择内标元素与内标线的原则。
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考题 问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么？X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍（B）—铀（U），为什么不能分析轻元素（氢、氦和锂）？
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