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X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。

  • A、特征光谱
  • B、带状光谱
  • C、连续光谱

参考答案

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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对，错)。
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考题 在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
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考题 X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
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考题 X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
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考题 在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应
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考题 X射线荧光光谱法基本上是一种（）分析法。A、相对B、绝对C、物理D、化学
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考题 原子荧光光谱法是一中（）元素分析方法。
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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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考题 原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
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考题 当对技术要求严格或者对结果有争议时，一般采取以下哪种材质分析方法进行检验（）A、化学分析法B、X射线荧光分析法C、发射光谱法D、原子吸收光谱法
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考题 X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。
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考题 X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
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考题 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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考题 X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
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考题 X射线荧光定量分析是对（）X射线的强度进行测量。
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考题 采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
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考题 X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
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考题 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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考题 X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度
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考题 X射线荧光光谱仪上，采用W靶X射线管适于分析重元素：Cr靶X射线管适于分析轻元素，而（）靶X射线管则在一定程度上，却对轻、重元素的分析都能兼顾。
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考题 X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
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考题 判断题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。A 对B 错
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考题 问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么？X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍（B）—铀（U），为什么不能分析轻元素（氢、氦和锂）？
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考题 判断题原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。A 对B 错
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