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X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。

  • A、增大
  • B、减小
  • C、不变
  • D、无变化

参考答案

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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对，错)。
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考题 在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
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考题 X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
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考题 波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管
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考题 X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性
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考题 在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应
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考题 X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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考题 在X射线实时成像中，射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关，而与曝光时间无关。
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考题 高能X射线照射到物质上以后，一般会出现以下哪几种X射线（）A、荧光X射线B、散射X射线C、衍射X射线D、透过X射线
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考题 X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。
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考题 X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。
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考题 X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
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考题 X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
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考题 在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光
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考题 由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。A、光子B、荧光C、光谱D、线束
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考题 X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱
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考题 X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
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考题 X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。A、X射线管B、晶体C、探测器
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考题 X射线荧光的波长轻元素的波长较短，重元素的波长较长。
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考题 在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线
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考题 试样受X射线照射后，其中各元素原子的（）被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁，并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线，或称为X射线荧光。A、外层电子B、内层电子C、原子D、高能电子
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考题 X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
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考题 X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
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考题 在X射线实时成像中，射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关，而与（）无关。
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考题 判断题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。A 对B 错
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考题 多选题高能X射线照射到物质上以后，一般会出现以下哪几种X射线（）A荧光X射线B散射X射线C衍射X射线D透过X射线
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