考题
X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积增大时,谱线的强度()。
A、增大B、减小C、不变
考题
X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对，错)。
考题
下列方法可用于结晶药物的鉴别、晶型检查的是A.X-射线粉末衍射法B.紫外光谱法C.红外光谱法D.薄层色谱法E.热重法
考题
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。A、组成B、制样方法C、样品无裂纹D、样品无气孔
考题
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
考题
把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
考题
X射线荧光光谱法基本上是一种（）分析法。A、相对B、绝对C、物理D、化学
考题
下列方法可用于结晶药物的鉴别、晶型检查的是（）A、X-射线粉末衍射法B、紫外光谱法C、红外光谱法D、薄层色谱法E、热重法
考题
当对技术要求严格或者对结果有争议时，一般采取以下哪种材质分析方法进行检验（）A、化学分析法B、X射线荧光分析法C、发射光谱法D、原子吸收光谱法
考题
X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。
考题
X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。
考题
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
考题
目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有（）方法。A、压片法B、薄膜法C、熔融制样法D、离心浇铸法
考题
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
考题
下列哪几种设备是X荧光粉末样品熔融法的制样设备（）。A、熔融炉B、压片机C、振动研磨机D、马弗炉
考题
X射线荧光光谱法测定铁水成分，只需样品大小合适，对检测表面制样没什么要求。
考题
采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
考题
粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，我们采用（）对粉末样进行定型。A、铁环B、PVC环C、钢环D、铝环
考题
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
考题
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
考题
X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱
考题
在红外吸收光谱法中，固体样品的制备主要的方法是（）。A、石蜡糊法B、压片法C、薄膜法D、压片法，石蜡糊法，薄膜法
考题
X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。A、粒度效应B、矿物效应C、酸度变化
考题
X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
考题
以下哪些方法属于光谱分析法（）A、红外光谱法B、原子荧光法C、旋光法D、X射线衍射法
