考题
X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对特征X射线光谱的()。
考题
X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）.A、部分元素的含量B、全部元素的含量C、矿物含量
考题
简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求？
考题
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
考题
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。A、组成B、制样方法C、样品无裂纹D、样品无气孔
考题
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
考题
台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测。
考题
手持式X射线荧光光谱仪的小点模式功能，能避免因材料成分不均匀而引起的检测误差。
考题
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
考题
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
考题
X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样，都是采用光栅作为分光元件。
考题
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
考题
采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
考题
波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜
考题
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
考题
由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。A、光子B、荧光C、光谱D、线束
考题
X射线荧光光谱仪激发样品的光源有：（）、放射性核、质子和同步辐射光源。
考题
顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、（）、准直器、测角仪、（）以及样品室、计数电路和计算机组成。
考题
X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
考题
X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
考题
采用玻璃熔片X射线荧光光谱法测定铁矿石中化学成分，在熔融制样过程中滴加碘化铵，其作用是氧化铁矿石中还原物质，保护坩埚。
考题
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
考题
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中连续光谱是构成（）的主要成分。A、激发B、叠加C、散射D、背景
考题
判断题手持式X射线荧光光谱仪的小点模式功能，能避免因材料成分不均匀而引起的检测误差。A
对B
错
考题
多选题手持式X射线荧光光谱分析仪，以下不可检测的元素成分是（）AMoBBCSnDN
考题
判断题台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测。A
对B
错
