考题
什么叫分析测试的基体效应？对测定结果有何影响？
考题
简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
考题
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。
考题
不影响X荧光分析的主要因素有（）。A、粒度效应B、矿物效应C、基体效应D、光电效应
考题
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
考题
X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性
考题
X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
考题
X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（）。A、经验系数法B、计算法C、基本参数法D、理论影响系数法
考题
基体效应包括吸收和增强两种效应。消除基体效应的方法有（）法等。A、稀释B、薄膜样品C、吸收校正D、数学处理
考题
X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
考题
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
考题
影响X射线强度的主要因素有基体效应、不均匀效应和谱线干扰。
考题
在原子吸收分析中，由于分子吸收，光散射作用及基体效应等会造成背景影响，可用的扣除背景的方法有什么？
考题
影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的（）、（）两类。
考题
简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？
考题
原子吸收分析的定量方法—标准加入法消除了下列哪种干扰？（）A、基体效应B、背景吸收C、光散射D、谱线干扰
考题
简述能量色散X射线荧光分析中X射线探测器应满足哪些要求？
考题
背景吸收和基体效应都与试样的基体有关，试分析它们的不同之处。
考题
用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
考题
多选题在原子吸收定量分析中，基体效应会给测定带来一定的影响，下列哪种方法可消除基体效应的影响（）。A工作曲线法B标准曲线法C标准加入法D内标法
考题
问答题为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应，除了内标法和标准加入法外，还有哪几种方法？
考题
问答题用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
