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简述能量色散X射线荧光分析中的干扰因素？

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考题 在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
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考题 简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求？
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考题 X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
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考题 原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
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考题 用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有：（）A、Si-PIN探测器B、Si（Li）探测器C、硅漂移探测器（SDD）D、正比计数器
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考题 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数
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考题 X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类。
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考题 在能量色散X射线荧光光谱仪上，探测器接收到的是（）光束。A、混合B、特征C、连续D、散射
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考题 采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
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考题 能量色散型X射线荧光光谱仪利用（）进行定性分析。A、脉冲数/秒B、能谱图峰位（脉冲高度）C、能谱图的峰高D、透光度
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考题 在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光
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考题 能量色散X射线荧光分析仪从多道分析器得到的谱带必须经过谱处理，其中包括（）等，才能得到准确的谱峰和强度。A、谱平滑B、背景拟合扣除C、重叠峰的拟合D、分离
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考题 能量色散X射线荧光光谱仪的脉冲高度分析器由一个或多个脉冲高度选择器组成，用来提供波谱图。
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考题 X射线波长色散和能量色散是建立在（）和（）基础上的。
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考题 简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？
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考题 在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线
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考题 简述X射线荧光分析技术中荧光产额的意义。
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考题 简述能量色散X射线荧光分析中X射线探测器应满足哪些要求？
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考题 能量色散X射线荧光法元素激发条件可用（）控制。A、调节X射线管电压B、调节X射线管电流强度C、增加测定时间D、增加X射线强度
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考题 问答题简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
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考题 问答题简述标识X射线和荧光X射线。
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考题 判断题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。A 对B 错
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