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X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类。


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考题 波长色散X射线荧光光谱仪单色器由一对光束和()元件组成。A、过滤器B、准直器C、反射D、色散

考题 在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。

考题 在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分,同时在进行多元素分析时,滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。

考题 波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。

考题 色散型X射线荧光光谱仪分为()。A、能量色散型B、多色散型C、波长色散型D、热量色散型

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的检定周期为()。A、2年B、1年C、6个月

考题 波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将()的X射线变成()的射线束。A、发散B、会聚C、平行D、混合

考题 用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有:()A、Si-PIN探测器B、Si(Li)探测器C、硅漂移探测器(SDD)D、正比计数器

考题 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同()的特点,将其分开,依靠()探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数

考题 波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪上,在晶体和探测器之间的光束是()光束。A、混合B、连续C、单色D、散射

考题 在能量色散X射线荧光光谱仪上,探测器接收到的是()光束。A、混合B、特征C、连续D、散射

考题 波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

考题 能量色散型X射线荧光光谱仪利用()进行定性分析。A、脉冲数/秒B、能谱图峰位(脉冲高度)C、能谱图的峰高D、透光度

考题 能量色散X射线荧光分析仪从多道分析器得到的谱带必须经过谱处理,其中包括()等,才能得到准确的谱峰和强度。A、谱平滑B、背景拟合扣除C、重叠峰的拟合D、分离

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线()转换成()的装置。A、光子能量B、光波C、电脉冲D、电流

考题 能量色散X射线荧光光谱仪的脉冲高度分析器由一个或多个脉冲高度选择器组成,用来提供波谱图。

考题 波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有()、()、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。

考题 X射线波长色散和能量色散是建立在()和()基础上的。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪可分为扫()、()和()三种类型。

考题 顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、()、准直器、测角仪、()以及样品室、计数电路和计算机组成。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时,计数率和X射线真实强度不成正比,这种现象称作()现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收

考题 简述能量色散X射线荧光分析中的干扰因素?

考题 简述能量色散X射线荧光分析中X射线探测器应满足哪些要求?

考题 试从仪器的工作原理、仪器结构和应用三方面对波长色散型和能量色散型X荧光光谱仪进行比较。

考题 能量色散X射线荧光法元素激发条件可用()控制。A、调节X射线管电压B、调节X射线管电流强度C、增加测定时间D、增加X射线强度

考题 问答题试从仪器的工作原理、仪器结构和应用三方面对波长色散型和能量色散型X荧光光谱仪进行比较。