考题
在原子吸收分析中，过大的灯电流除了产生光谱干扰外，还使发射共振线的谱线轮廓变宽。这种变宽属于A、自然变宽B、压力变宽C、场致变宽D、多普勒变宽（热变宽）E、冷变宽
考题
原子光谱(发射、吸收与荧光)三种分析方法中均很严重的干扰因素是 ( )
A.谱线干扰B.背景干扰C.杂散干扰D.化学干扰
考题
X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积增大时,谱线的强度()。
A、增大B、减小C、不变
考题
光谱分析中的干扰主要包括()干扰,谱线重叠干扰及空白干扰。
考题
原子吸收分析中存在()、基体干扰、化学干扰、光谱干扰和背景干扰等五类。
考题
不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是（）。A、增加灯电流B、选用其他的荧光分析线C、加入络合剂络合干扰元素D、预先化学分离干扰元素
考题
电感耦合等离子体原子发射光谱法的光谱干扰是指连续背景干扰和谱线重叠干扰。
考题
在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
考题
原子光谱（发射、吸收与荧光）三种分析方法中均很严重的干扰因素是（）。A、谱线干扰B、背景干扰C、杂散干扰D、化学干扰
考题
利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时，AsKα线与PbLα线有干扰，则应选择（）线进行分析。
考题
波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
考题
原子光谱（发射、吸收与荧光）三种分析方法中均很严重的干扰因素是（）。A、光谱线干扰B、背景C、杂散光D、化学干扰
考题
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
考题
ICP法进行样品测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离干扰
考题
不能消除原子荧光光谱中干扰光谱线的方法是：（）A、增加灯电流B、选择其他荧光分析线C、加入络合剂络合干扰元素D、预先化学分离干扰元素
考题
波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
考题
X射线管产生的X射线光谱，除连续X射线光谱外，还有阳极材料所产生的（）X射线光谱，且（）在连续谱之上。A、特征B、叠加C、散射D、发射
考题
原子吸收干扰中的光谱干扰分（）和背景干扰。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰D、谱线干扰
考题
应用光栅作为色散元件，在光栅光谱中，各级光谱之间有部分重叠干扰现象存在.为了消除这种干扰现象，方法有：选择（）和（）。
考题
下述哪种干扰在原子荧光光谱法中比原子吸收光谱法更严重（）A、粒子的浓度B、背景C、散射光D、化学干扰E、光谱线干扰
考题
ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离子干扰
考题
极性溶剂对荧光的光谱干扰最小，荧光光谱分析中的主要光谱干扰是（）
考题
上行线的移频信号，存在下行线移频信号的邻线干扰，称做（）干扰。在一些特殊情况下，还存在双边侵入干扰。A、全边侵入B、半边侵入C、环流侵入D、磁化侵入
考题
在光谱定量分析中，lgI-lgc关系曲线，若上部分向下弯曲，其原因是（）A、谱线产生自吸B、光谱干扰C、背景增大D、化学干扰增大
考题
填空题（）溶剂对荧光的光谱干扰最小，荧光光谱分析中的主要干扰是（）。
考题
填空题极性溶剂对荧光的光谱干扰最小，荧光光谱分析中的主要光谱干扰是（）
考题
单选题不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是（）。A
增加灯电流B
选用其他的荧光分析线C
加入络合剂络合干扰元素D
预先化学分离干扰元素
