考题
原子吸收光度法的背景干扰，主要表现为()形式。A、火焰中被测元素发射的谱线B、火焰中干扰元素发射的谱线C、光源产生的非共振线D、火焰中产生的分子吸收
考题
在原子吸收光谱法分析中，能使吸光度值增加而产生正误差的干扰因素是A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰D、背景干扰E、电路干扰
考题
原子光谱(发射、吸收与荧光)三种分析方法中均很严重的干扰因素是 ( )
A.谱线干扰B.背景干扰C.杂散干扰D.化学干扰
考题
原子吸收分析中存在()、基体干扰、化学干扰、光谱干扰和背景干扰等五类。
考题
电感耦合等离子体原子发射光谱法的光谱干扰是指连续背景干扰和谱线重叠干扰。
考题
原子吸收光度法中，背景干扰表现为（）。A、火焰中干扰元素发射的谱线B、光源产生的非共振线C、火焰中被测元素发射的谱线D、火焰中产生的分子吸收
考题
原子吸收光谱分析中，塞曼效应法是用来消除（）。A、化学干扰B、物理干扰C、电离干扰D、背景干扰
考题
原子吸收中的背景干扰主要来源于（）。A、火焰中待测元素发射的谱线B、干扰元素发射的谱线C、光源辐射的非共振线D、分子吸收
考题
原子光谱（发射、吸收与荧光）三种分析方法中均很严重的干扰因素是（）。A、光谱线干扰B、背景C、杂散光D、化学干扰
考题
在原子吸收光谱法分析中，能使吸光度值增加而产生正误差的干扰因素是（）。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰D、背景干扰
考题
原子吸收法中，溶液黏度引起的干扰属于（）A、背景吸收B、物理干扰C、电离干扰D、化学干扰
考题
原子吸收光谱法的背景干扰表现为下列哪种形式？（）A、火焰中被测元素发射的谱线；B、火焰中干扰元素发射的谱线；C、火焰产生的非共振线；D、火焰中产生的分子吸收
考题
下述哪种干扰在原子荧光光谱法中比原子吸收光谱法中更严重？（）A、粒子的浓度B、背景C、杂散光D、化学干扰
考题
原子吸收干扰中的光谱干扰分（）和背景干扰。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰D、谱线干扰
考题
（）是原子吸收光谱分析中的主要干扰因素。A、化学干扰B、物理干扰C、光谱干扰D、火焰干扰
考题
在原子吸收法中，原子化器的分子吸收属于（）。A、光谱线重叠的干扰B、化学干扰C、背景干扰D、物理干扰
考题
下述哪种干扰在原子发射光谱中比原子荧光光谱法更严重？（）A、粒子的浓度B、背景C、杂散光D、化学干扰
考题
原子吸收分析的定量方法—标准加入法消除了下列哪种干扰？（）A、基体效应B、背景吸收C、光散射D、谱线干扰
考题
ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离子干扰
考题
在原子吸收光谱分析中，塞曼效应用来消除（）A、物理干扰B、背景干扰C、化学干扰D、电离干扰
考题
对原子发射光谱法比对原子荧光光谱法影响更严重的因素是（）A、粒子的浓度B、杂散光C、化学干扰D、光谱线干扰
考题
原子吸收分析中采用标准加入法进行分析可消除（）的影响。A、光谱干扰B、基体干扰C、化学干扰D、背景吸收
考题
ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离干扰
考题
原子吸收光度法中的背景干扰表现为下述哪种形式？（）A、火焰中被测元素发射的谱线B、火焰中干扰元素发射的谱线C、光源产生的非共振线D、火焰中产生的分子吸收
考题
单选题在原子吸收法中，原子化器的分子吸收属于（）。A
光谱线重叠的干扰B
化学干扰C
背景干扰D
物理干扰
考题
单选题在原子吸收光谱法分析中，能使吸光度值增加而产生正误差的干扰因素是（）。A
物理干扰B
化学干扰C
电离干扰D
背景干扰
考题
单选题原子吸收光度法中的背景干扰表现为下述哪种形式？（）A
火焰中被测元素发射的谱线B
火焰中干扰元素发射的谱线C
光源产生的非共振线D
火焰中产生的分子吸收
