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题目内容 (请给出正确答案)
关于过程处于统计控制状态时的表现,正确的有( )。
A.产品全部合格
B.过程中只有偶因而无异因产生的变异
C.过程中只有异因而无偶因产生的变异
D.既有异因亦有偶因产生的变异
E.点子落在控制图上控制限外的概率很小


参考答案

参考解析
解析:。统计控制状态是指过程中只存在偶因而无异因的状态,因此选项B、C, D中选项B正确。当过程处于统计控制状态时,过程的波动具有统计规律性,此时控制图上用于监控的质量特性值应在控制限内随机波动,落在控制限外的概率很小,所以选项E正确。
更多 “关于过程处于统计控制状态时的表现,正确的有( )。 A.产品全部合格 B.过程中只有偶因而无异因产生的变异 C.过程中只有异因而无偶因产生的变异 D.既有异因亦有偶因产生的变异 E.点子落在控制图上控制限外的概率很小” 相关考题
考题 分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态,( )的控制线延长能作为控制用的控制图。A.状态Ⅰ:统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B.状态Ⅱ:统计控制状态未达到稳态,技术控制状态达到稳态C.状态Ⅲ:统计控制状态达到稳态,技术控制状态未达到稳态D.状态Ⅳ:统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态

考题 关于统计过程控制的说法,正确的有( )。A.统计过程控制是一种过程质量管理技术B.统计过程控制是指利用控制图对过程进行实时监控,使过程稳定地处于可接受的水平C.统计过程控制是一种事后补救的方法D.统计过程控制所使用的主要工具是控制图E.统计过程控制的主要目的是确定是否生产出不合格品

考题 根据上述计算结果,判断过程( )。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态

考题 使用控制用均值一极差控制图监控过程时,若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外,则( )。A.需要重新计算控制限B.该子组中一定有不合格品C.可判定过程处于统计失控状态D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设、

考题 关于技术控制状态和统计控制状态的说法,正确的有( )。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列,则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c,E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

考题 当过程处于统计控制状态时,X控制图的点子落在控制界限外的概率为( )。A.6.8%B.3.4%S 当过程处于统计控制状态时,X控制图的点子落在控制界限外的概率为( )。A.6.8%B.3.4%C.0.27%D.0.135%

考题 关于Cp与Cpk的说法,正确的有( )。A.只有在过程处于统计控制状态才能计算B.Cp仅能用于双侧规范限的情况C.Cpk可以反映过程中心的偏移D.一般来说,Cpk不大于CpE.在过程能力分析时只考虑其中一个即可

考题 控制用均值控制图上最后的9个点子如下图所示,正确的有( )。A.过程未处于统计控制状态B.过程的均值有减小的趋势C.过程的标准差有增大的趋势D.过程的不合格品率肯定会减小E.过程偏离分布中心的程度减小

考题 关于统计控制状态的谫法,正确的有( )。A.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态

考题 关于处于统计控制状态的过程的说法,正确的有( )。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时,可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的

考题 关于统计控制状态与失控状态的说法,正确的有( )。 A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态 B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态 C.在统计控制状态下,过程的波动达到最小,不可能再改进 D.过程处于失控状态时,无法估计过程能力 E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判定过程处于统计控制状态

考题 工作人员收集了手表厂螺栓扭矩去年全年的监测数据,计算得样本标准差为5。工艺要求螺栓扭矩的规范上限是180,规范下限是140,则关于该过程的说法,正确的是( )。 A.过程能力指数为1. 33 B.过程性能指数为1. 33 C.过程处于统计控制状态 D.过程未处于统计控制状态

考题 关于过程状态的说法,正确的有( )。 A.在统计控制状态下,可以预测过程波动的大小 B.当过程处于失控状态时,过程的分布将发生改变 C.过程处于统计控制状态时,CP≥1 D.异常因素会导致过程失控 E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判断过程一定处于统计控制状态

考题 当过程处于统计控制状态时,X控制图的点子落在控制界限外的概率为()。 A. 6.8% B. 3.4% C. 0.27% D. 0. 135%

考题 加工一种轴承,其规格为10±0.08mm,要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到: μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。 根据上述计算结果,判断过程()。 A.处于统计控制状态和技术控制状态 B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态 C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态 D.未处于统计控制状态和技术控制状态

考题 以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A、过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

考题 过程改进策略包括()两个环节。A、判断过程是否处于统计控制状态B、评价过程能力C、判断过程是否处于异常状态D、判断过程的离散程度

考题 从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。A、过程处于统计控制状态B、具有足够的生产能力C、过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D、过程处于统计控制状态但过程能力不足

考题 控制图是对过程值()进行测定、记录、评估和监察过程是否处于统计控制状态的一种用统计方法设计的图。

考题 多选题控制图上点出界,则表明(  )。[2007年真题]A过程处于技术控制状态B过程可能存在异常因素C小概率事件发生D过程稳定性较好E过程未处于统计控制状态

考题 单选题从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是(  )。[2006年真题]A 过程处于统计控制状态B 具有足够的生产能力C 过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D 过程处于统计控制状态但过程能力不足

考题 单选题以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A 过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B 过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C 过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D 过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

考题 单选题加工一种轴承,其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到: μ=10.04mm,σ=0.02mm 根据以上材料,回答:下列论述正确的是()。A 过程处于统计控制状态和技术控制状态B 过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态C 过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D 过程未处于统计控制状态和技术控制状态

考题 多选题过程改进策略包括()两个环节。A判断过程是否处于统计控制状态B评价过程能力C判断过程是否处于异常状态D判断过程的离散程度

考题 多选题过程改进策略包括(  )两个环节。A判断过程是否处于统计控制状态B评价过程能力C判断过程是否处于异常状态D判断过程的离散程度E质量改进

考题 单选题从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。A 过程处于统计控制状态B 具有足够的生产能力C 过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D 过程处于统计控制状态但过程能力不足

考题 单选题分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态。以下四种()的控制线延长能作为控制用的控制图。A 状态Ⅰ:统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B 状态Ⅱ:统计控制状态未达到稳态,技术控制状态达到稳态C 状态Ⅲ:统计控制状态达到稳态,技术控制状态未达到稳态D 状态Ⅳ:统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态