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（请给出正确答案）
关于Cp与Cpk的说法，正确的有（ ）。
A.只有在过程处于统计控制状态才能计算
B.Cp仅能用于双侧规范限的情况
C.Cpk可以反映过程中心的偏移
D.一般来说，Cpk不大于Cp
E.在过程能力分析时只考虑其中一个即可
参考答案
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考题
下列有关Cp，Cpk的叙述正确的是( )。A．Cp——无偏移短期过程能力指数，Cpk——有偏移短期过程能力指数B．Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk——有偏移短期过程能力指数C．Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk——无偏移下单侧短期过程能力指数D．Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk——有偏移下单侧短期过程能力指数
考题
根据上述计算结果，判断过程（ ）。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
考题
某轴承轴径的规范限为6.8±0.1mm，其在统计控制状态下服从N(6.75，0.022)，则下列说法中，正确的有（ ）。A.Cp=l.0B.Cp=1.67C.Cpk=1.67D.CpK=0.83E.CpK=0.5
考题
关于过程能力及过程能力指数的说法，正确的有（ ）。A.过程能力的大小与公差无关B.Cp等于公差除以3倍的过程质量特性标准差C.Cp值越大，表明过程质量特性的离散程度越大D.Cp与CpK的差反映了过程分布中心与规范中心的偏离程度E.Cp=l时，99.73％的过程输出将在规范范围内
考题
关于统计控制状态的谫法，正确的有（ ）。A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
考题
关于统计控制状态，下列说法正确的有( )。A．统计控制状态是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态B．控制状态是生产追求的目标，因为在控制状态下，对产品的质量有完全的把握C．通常控制图的控制界限都在规范限之内，故至少有99.73%的产品是合格品D．在控制状态下生产的不合格品最少，生产最经济E．统计控制状态是指过程中只有异因无偶因产生的变异的状态
考题
关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
考题
关于过程能力分析和过程性能分析的说法，正确的有（ ）。
A.一般来说，过程能力指数Cpk不小于过程性能指数Ppk
B.过程性能指数只有在过程处于统计控制状态时才能计算
C.过程性能指数可以反映实际状态
D.与数据不是按照时间顺序收集时，计算过程能力指数没有意义
E.当过程能力指数远大于过程性能指数时，说明过程的管理有待加强
考题
关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
考题
工作人员收集了手表厂螺栓扭矩去年全年的监测数据，计算得样本标准差为5。工艺要求螺栓扭矩的规范上限是180，规范下限是140，则关于该过程的说法，正确的是（ ）。
A.过程能力指数为1. 33 B.过程性能指数为1. 33
C.过程处于统计控制状态 D.过程未处于统计控制状态
考题
加工一种轴承，其规格为（10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。
下列推断中，正确的是（ ）。
A.过程处于统计控制状态和技术控制状态
B.过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
均值控制图显示最近有连续9个点落在中心线的同一侧，但均在控制限内，这说明（ ）。
A.过程失控，过程中心出现系统偏移，应查找原因，及时纠正
B.过程输出呈现趋势性变化，应重新计算控制界限
C.样本点均在控制限内，过程处于统计控制状态
D.过程受控，不会影响Cp和Cpk
考题
某产品关键尺寸的规范为2. 4±0. 005，由于该尺寸的加工合格率较低，车间专门成立了质量改进小组掌握关键尺寸的分布情况，分析合格率低的原因，并进一步采取相应的改进措施。
为验证改进措施，小组收集了 30个尺寸数据绘制单值一移动极差控制图（见下图），从图中可以得出的结论有（ ）。
A.过程处于统计控制状态 B.过程未处于统计控制状态
C. Cp = Cpk = 1. 67 D. Cp = Cpk = 1. 33
考题
关于过程状态的说法，正确的有（ ）。
A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时，CP≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
考题
某轴承轴径的规范限为6.8±0.1 mm，其在统计控制状态下服从N(6. 75，0.022)，则下列说法中，正确的有（）。
A. Cp = 1. 0 B. Cp = 1. 67
C. CpK = 1. 67 D. CpK = 0. 83
E. CPK=0. 5
考题
关于统计控制状态的说法，正确的有（ ）。
A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内
B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布
C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态
D.统计控制状态是指过程能力充足的状态
E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
考题
关于Cp与CpK的说法，正确的有（ ）。
A.只有在过程处于统计控制状态才能计算
B. Cp仅能用于双侧规范限的情况
C. Cpk可以反映过程中心的偏移 D. —般来说，Cpk不大于Cp
E.在过程能力分析时只考虑其中一个即可
考题
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：
μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。
根据上述计算结果，判断过程（）。
A.处于统计控制状态和技术控制状态
B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
关于CP、CPK的说法，正确的是（）A、CP大于或等于CPKB、CP大于或等于KCPC、CP很大，CPK很小，说明过程的散布很小，均值偏离中心很大D、CP很大，CPK很小，说明过程的散布很大，均值偏离中心很小
考题
以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
对于正态分布的过程，有关Cp、Cpk和缺陷率的说法，正确的是（）A、根据Cp不能估计缺陷率，根据Cpk才能估计缺陷率B、根据Cp和Cpk都能估计缺陷率C、缺陷率与Cp和Cpk无关D、以上说法都不对
考题
单选题对于正态分布的过程，有关Cp、Cpk和缺陷率的说法，正确的是（）A
根据Cp不能估计缺陷率，根据Cpk才能估计缺陷率B
根据Cp和Cpk都能估计缺陷率C
缺陷率与Cp和Cpk无关D
以上说法都不对
考题
单选题以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A
过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B
过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C
过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D
过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
考题
单选题加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm 根据以上材料，回答：下列论述正确的是（）。A
过程处于统计控制状态和技术控制状态B
过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C
过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D
过程未处于统计控制状态和技术控制状态
考题
多选题关于过程能力(Cp)评级说法正确的是( )A如果过程不处于受控状态，对Cp的计算没有意义BCp＝1.00时，要求过程准确地集中在容差分布范围的均值处CCp＝1.33时，生产所有单元处于规范限内的目标更容易实现DCp＝1.5时，为Cp的“安全”下限ECp＞1.5时，才能保证一个受控过程所生产的所有单元处于规范之内
考题
单选题下列关于SPC的目的和作用说法正确的是（）。A
SPC的目的和作用是统计OOC/OOS，CP和CPK等指数B
SPC的目的和作用是通过监控OOC/OOS，计算CP和CPK等指数，帮助工艺和生产人员采取适当之措施，实现过程的持续改进C
SPC的目的和作用是实现OOC/OOS报警，计算CP和CPK，让生产人员忙个不停
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