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单选题
对于正态分布的过程,有关Cp、Cpk和缺陷率的说法,正确的是()
A

根据Cp不能估计缺陷率,根据Cpk才能估计缺陷率

B

根据Cp和Cpk都能估计缺陷率

C

缺陷率与Cp和Cpk无关

D

以上说法都不对


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考题 下列关于Cp和Cpk的说法中,不正确的是( )。A.Cp越大,质量能力越强B.有偏移情况的Cpk表示过程中心μ与规范中心M偏移情况下的过程能力指数,Cpk越大,则二者偏离越小,是过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果C.Cp的着重点在于质量能力D.Cpk的着重点在于管理能力,没有考虑质量能力

考题 下列有关Cp,Cpk的叙述正确的是( )。A.Cp——无偏移短期过程能力指数,Cpk——有偏移短期过程能力指数B.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——有偏移短期过程能力指数C.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——无偏移下单侧短期过程能力指数D.Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——有偏移下单侧短期过程能力指数

考题 在解释Cp和Cpk的关系时,下列表述正确的是( )。A.规格中心与分布中心重合时,Cp=CpkB.Cpk是大于或等于CpC.Cp和Cpk之间没有关系D.Cpk总是小于Cp

考题 关于Cp与Cpk的说法,正确的有( )。A.只有在过程处于统计控制状态才能计算B.Cp仅能用于双侧规范限的情况C.Cpk可以反映过程中心的偏移D.一般来说,Cpk不大于CpE.在过程能力分析时只考虑其中一个即可

考题 两个过程能力指数Cp与Cpk间的关系是( )。A.Cp≤CpkB.Cpk≤CpC.Cp/Cpk=1-KD.Cp/Cpk=1+K

考题 在解释Cp和Cpk的关系时,正确的表述是( )。A.规格中心与分布中心重合时,Cp =Cpk B. Cpk总是大于或等于Cp C. Cp和Cpk之间没有关系 D. Cpk总是小于Cp

考题 下列有关Cp、Cpk的叙述正确的是( )。 A. Cp-无偏移短期过程能力指数,Cpk-有偏移短期过程能力指数 B.Cp-无偏移上单侧短期过程能力指数, Cpk--有偏移短期过程能力指数 C.Cp -无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk--无偏移下单侧短期过程能力指数 D. Cp--无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk--有偏移下单侧短过程能力指数Cpk

考题 在解释Cp和Cpk的关系时,下列表述正确的是( )。 A.规格中心与分布中心重合时,Cp=Cpk B. Cpk总是大于或等于Cp C. Cp和Cpk之间没有关系 D. Cpk总是小于Cp

考题 对于过程能力指数Cp、Cpk,以下理解错误的是()A、当Cp与Cpk较小(如小于0.5)时,则客户所要求的公差可能较宽松,合格品率高B、在某些特殊情况下,Cpk可能会大于CpC、对于供应商而言,通过分析供应商的Cp与Cpk可以了解各个供应商的质量水平,并要求Cp、Cpk大的供应商进行整改D、CNC车床加工产品尺寸显示Cpk值小,但Cp值大,代表尺寸中心偏倚,可以进行加工设备参数的调校过程

考题 某一稳定的零件生产过程质量特性值具有双侧公差,零件质量特性均值比公差中心值稍大些,过程能力指数不能令人完全满意。后来生产过程获得了改进,其标准差降低为原来标准差的90%,均值维持不变。这时,对于能力指数Cp和Cpk的改进状况可以得到的结论是:()A、Cp提高约11%,Cpk也提高约11%B、Cp提高约11%,Cpk的提高值比11%要大C、Cp提高约11%,Cpk的提高值比11%要小D、对于Cp及Cpk的提高值都完全无法断定

考题 关于CP、CPK的说法,正确的是()A、CP大于或等于CPKB、CP大于或等于KCPC、CP很大,CPK很小,说明过程的散布很小,均值偏离中心很大D、CP很大,CPK很小,说明过程的散布很大,均值偏离中心很小

考题 过程能力分析的一个前提是数据服从正态分布,如果数据呈非正态分布,以下说法正确的是()A、可使用BOX-COX办法转化为正态分布B、可使用Johnson变换法转化为正态分布C、不必转化为正态分布,使用非正态的CP/CPK计算公式计算D、数据一定可以转化为正态分布

考题 两个过程能力指数Cp与Cpk间的关系是()A、Cp≤CpkB、Cpk≤CpC、Cp/Cpk=1-KD、Cp/Cpk=1+K

考题 在解释Cp和Cpk的关系时,正确的表述是()。A、规格中心与分布中心重合时,Cp=CpkB、Cpk总是大于或等于CpC、Cp和Cpk之间没有关系D、Cpk总是小于Cp

考题 以下关于过程能力指数Cp或Cpk的说法中,正确的是()A、一经确定,不会改变B、过程能力指数越高,过程不合格率越高C、在过程调整后应重新确定D、过程能力指数越高,过程合格率越低

考题 下面对过程能力分析的陈述中,说法正确的是()。A、过程能力是过程在受控的状态下,客户要求与过程表现的比值B、Cpk是过程能力指数,它应用于所有的数据类型C、Cp,Cpk,DPO,DPMO,PPM,Zlt,Zst等都是表示过程能力的过程能力指数D、过程不受控或数据不是正态分布时,无法进行过程能力分析

考题 六西格玛水平的过程能力是()A、Cp=2.5B、Cp=2C、Cp=1.5D、Cpk=1.5

考题 请指出下列哪些过程的过程能力较高()。A、CP=1.5 Cpk=1.33B、CP=2.0 Cpk=1.67C、CP=2.0 Cpk=2.1

考题 关于Cp和Cpk的概念,下列哪个是正确的?()A、Cp综合反应过程变差及其与target的关系,Cpk仅反应数据分布的稳定程度B、Cp仅反应数据分布的稳定程度,Cpk仅反应与target的关系C、Cp仅反应数据分布的稳定程度,Cpk综合反应过程变差及其与target的关系

考题 对于正态分布的过程,有关Cp、Cpk和缺陷率的说法,正确的是()A、根据Cp不能估计缺陷率,根据Cpk才能估计缺陷率B、根据Cp和Cpk都能估计缺陷率C、缺陷率与Cp和Cpk无关D、以上说法都不对

考题 多选题关于CP、CPK的说法,正确的是()ACP大于或等于CPKBCP大于或等于KCPCCP很大,CPK很小,说明过程的散布很小,均值偏离中心很大DCP很大,CPK很小,说明过程的散布很大,均值偏离中心很小

考题 单选题在解释Cp和Cpk的关系时,正确的表述是(  )。A 规格中心与分布中心重合时,Cp=CpkB Cpk 总是大于或等于CpC Cp和Cpk之间没有关系D Cpk 总是小于Cp

考题 多选题过程能力分析的一个前提是数据服从正态分布,如果数据呈非正态分布,以下说法正确的是()A可使用BOX-COX办法转化为正态分布B可使用Johnson变换法转化为正态分布C不必转化为正态分布,使用非正态的CP/CPK计算公式计算D数据一定可以转化为正态分布

考题 单选题公差为10±0.02mm,假设直径服从正态分布,知Cp=1.0,Cpk=Cpu=0.8,因此过程分布中心是()A 10.001mmB 10.002mmC 10.004mmD 10.006mm

考题 多选题对于过程能力指数Cp、Cpk,以下理解错误的是()A当Cp与Cpk较小(如小于0.5)时,则客户所要求的公差可能较宽松,合格品率高B在某些特殊情况下,Cpk可能会大于CpC对于供应商而言,通过分析供应商的Cp与Cpk可以了解各个供应商的质量水平,并要求Cp、Cpk大的供应商进行整改DCNC车床加工产品尺寸显示Cpk值小,但Cp值大,代表尺寸中心偏倚,可以进行加工设备参数的调校过程

考题 单选题下列有关Cp、Cpk的叙述正确的是(  )。A Cp——无偏移短期过程能力指数,Cpk——有偏移短期过程能力指数B Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——有偏移短期过程能力指数C Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——无偏移下单侧短期过程能力指数D Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数,Cpk——有偏移下单侧短期过程能力指数

考题 单选题下列关于SPC的目的和作用说法正确的是()。A SPC的目的和作用是统计OOC/OOS,CP和CPK等指数B SPC的目的和作用是通过监控OOC/OOS,计算CP和CPK等指数,帮助工艺和生产人员采取适当之措施,实现过程的持续改进C SPC的目的和作用是实现OOC/OOS报警,计算CP和CPK,让生产人员忙个不停