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关于处于统计控制状态的过程的说法,正确的有( )。

A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品

B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1

C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时,可判定过程处于统计控制状态

D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动

E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的


参考答案

更多 “ 关于处于统计控制状态的过程的说法,正确的有( )。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时,可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的 ” 相关考题
考题 分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态,( )的控制线延长能作为控制用的控制图。A.状态Ⅰ:统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B.状态Ⅱ:统计控制状态未达到稳态,技术控制状态达到稳态C.状态Ⅲ:统计控制状态达到稳态,技术控制状态未达到稳态D.状态Ⅳ:统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态

考题 根据上述计算结果,判断过程( )。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态

考题 使用控制用均值一极差控制图监控过程时,若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外,则( )。A.需要重新计算控制限B.该子组中一定有不合格品C.可判定过程处于统计失控状态D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设、

考题 关于技术控制状态和统计控制状态的说法,正确的有( )。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列,则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c,E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

考题 从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是( )。A.过程处于统计控制状态B.具有足够的生产能力C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D.过程处于统计控制状态但过程能力不足

考题 当过程处于统计控制状态时,X控制图的点子落在控制界限外的概率为( )。A.6.8%B.3.4%S 当过程处于统计控制状态时,X控制图的点子落在控制界限外的概率为( )。A.6.8%B.3.4%C.0.27%D.0.135%

考题 将控制限作为控制标准进行日常控制,必须满足的条件有( )。A.过程处于统计控制状态B.过程能力指数满足要求C.过程存在异常因素D.过程能力尚未充足E.控制限与公差限不一致

考题 关于统计控制状态的谫法,正确的有( )。A.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态

考题 关于统计控制状态与失控状态的说法,正确的有( )。 A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态 B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态 C.在统计控制状态下,过程的波动达到最小,不可能再改进 D.过程处于失控状态时,无法估计过程能力 E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判定过程处于统计控制状态

考题 工作人员收集了手表厂螺栓扭矩去年全年的监测数据,计算得样本标准差为5。工艺要求螺栓扭矩的规范上限是180,规范下限是140,则关于该过程的说法,正确的是( )。 A.过程能力指数为1. 33 B.过程性能指数为1. 33 C.过程处于统计控制状态 D.过程未处于统计控制状态

考题 分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态,( )的控制线延长能作为控制用的控制图。 A.状态I,统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态 B.状态II,统计控制状态未达到稳态,技术控制状态达到稳态 C.状态III,统计控制状态达到稳态,技术控制状态未达到稳态 D.状态IV,统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态

考题 加工一种轴承,其规格为(10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到:μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。 下列推断中,正确的是( )。 A.过程处于统计控制状态和技术控制状态 B.过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态 C.过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态 D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态

考题 关于过程状态的说法,正确的有( )。 A.在统计控制状态下,可以预测过程波动的大小 B.当过程处于失控状态时,过程的分布将发生改变 C.过程处于统计控制状态时,CP≥1 D.异常因素会导致过程失控 E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判断过程一定处于统计控制状态

考题 分析用控制图主要分析内容有( )。A.该过程的不合格品率 B.该过程的能力指数是否满足要求(也称技术稳态) C.所分析的过程是否处于统计控制状态(也称统计稳态) D.所分析的过程是否满足顾客要求 E.分析过程的合格品率

考题 控制图上点出界,则表明( )。[2007年真题] A.过程处于技术控制状态 B.过程可能存在异常因素 C.小概率事件发生 D.过程稳定性较好 E.过程未处于统计控制状态

考题 关于统计控制状态的说法,正确的有( )。 A.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子均在控制限内 B.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子在中心线上下随机分布 C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态 D.统计控制状态是指过程能力充足的状态 E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态

考题 过程改进策略包括( )两个环节。 A.判断过程是否处于统计控制状态 B.评价过程能力 C.判断过程是否处于异常状态 D.判断过程的离散程度 E.质量改进

考题 加工一种轴承,其规格为10±0.08mm,要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到: μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。 根据上述计算结果,判断过程()。 A.处于统计控制状态和技术控制状态 B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态 C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态 D.未处于统计控制状态和技术控制状态

考题 以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A、过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

考题 过程改进策略包括()两个环节。A、判断过程是否处于统计控制状态B、评价过程能力C、判断过程是否处于异常状态D、判断过程的离散程度

考题 从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。A、过程处于统计控制状态B、具有足够的生产能力C、过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D、过程处于统计控制状态但过程能力不足

考题 控制图是对过程值()进行测定、记录、评估和监察过程是否处于统计控制状态的一种用统计方法设计的图。

考题 单选题从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是(  )。[2006年真题]A 过程处于统计控制状态B 具有足够的生产能力C 过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D 过程处于统计控制状态但过程能力不足

考题 单选题以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A 过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B 过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C 过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D 过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

考题 单选题加工一种轴承,其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到: μ=10.04mm,σ=0.02mm 根据以上材料,回答:下列论述正确的是()。A 过程处于统计控制状态和技术控制状态B 过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态C 过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D 过程未处于统计控制状态和技术控制状态

考题 单选题分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态,(  )的控制线延长能作为控制用的控制图。A 状态Ⅰ,统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B 状态Ⅱ,统计控制状态未达到稳态,技术控制状态达到稳态C 状态Ⅲ,统计控制状态达到稳态,技术控制状态未达到稳态D 状态Ⅳ,统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态

考题 单选题从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。A 过程处于统计控制状态B 具有足够的生产能力C 过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D 过程处于统计控制状态但过程能力不足