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控制用均值控制图上最后的9个点子如下图所示，正确的有（ ）。
A.过程未处于统计控制状态
B.过程的均值有减小的趋势
C.过程的标准差有增大的趋势
D.过程的不合格品率肯定会减小
E.过程偏离分布中心的程度减小
参考答案
更多 “ 控制用均值控制图上最后的9个点子如下图所示，正确的有（ ）。A.过程未处于统计控制状态B.过程的均值有减小的趋势C.过程的标准差有增大的趋势D.过程的不合格品率肯定会减小E.过程偏离分布中心的程度减小 ” 相关考题
考题
当产品质量特性值分布的均值与公差中心不重合时( )。A．不合格品率增大，过程能力指数不变B．不合格品率增大，过程能力指数增大C．不合格品率增大，过程能力指数减小D．不合格品率不变，过程能力指数减小
考题
当产品质量特性值分布的均值与公差中心不重合时,( )。A.不合格品率增大,过程能力指数不变SXB
当产品质量特性值分布的均值与公差中心不重合时，（ ）。A.不合格品率增大，过程能力指数不变B.不合格品率增大，过程能力指数增大C.不合格品率增大，过程能力指数减小D.不合格品率不变，过程能力指数减小
考题
分析用控制图主要分析内容有( )。A．该过程的不合格品率B．该过程的能力指数是否符合规定要求(也称技术稳态)C．所分析的过程是否处于统计控制状态(也称统计稳态)D．所分析的过程是否满足顾客要求E．分析过程的合格品率
考题
当产品质量特性值分布的均值与公差中心重合时,( )。 A.过程能力指数增大,不合格品率减小
当产品质量特性值分布的均值与公差中心重合时，（ ）。A.过程能力指数增大，不合格品率减小B.过程能力指数增大，不合格品率增大C.过程能力指数减小，不合格品率增大D.不合格品率不变，过程能力指数减小
考题
均值－极差控制图上有中心线CL、上控制界限UCL和下控制LCL,其中,均值控制图的上、下控制界限可以用来判断()
A.过程是否稳定B.过程中心与规格中心是否发生偏移C.与规格要求对比，判断过程能力是否充分D.是否有不合格品产生
考题
当产品质量特性值分布的均值与公差中心重合时，（ ）。A.过程能力指数增大，不合格品率减小B.过程能力指数增大，不合格品率增大C.过程能力指数减小，不合格品率增大D.不合格品率不变，过程能力指数减小
考题
使用控制用均值一极差控制图监控过程时，若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外，则（ ）。A.需要重新计算控制限B.该子组中一定有不合格品C.可判定过程处于统计失控状态D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设、
考题
对于一个稳定的服从正态分布的生产过程，计算出它的过程能力指数Cp=1.65，Cpk=0.92。这时对生产过程作出的以下判断中正确的有( )。A．生产过程的均值偏离公差中心太远，且过程的标准差太大B．生产过程的均值偏离公差中心太远，过程的标准差尚可C．生产过程的均值偏离公差中心尚可，但过程的标准差太大D．对于生产过程的均值偏离公差中心情况及过程的标准差都不能作出判断
考题
控制用控制图上的点子均在控制限内，只是最后连续l5点落在中心线两侧的C区内，此时正确的处理是（ ）。A.判断为过程异常，调查原因B.无界外点，判断过程处于统计控制状态C.需要采集更多的样本确认过程是否真的发生变化D.尚未出现不合格品，可以继续监控
考题
关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
考题
关于统计控制状态的谫法，正确的有（ ）。A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
考题
关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
考题
关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
考题
关于过程状态的说法，正确的有（ ）。
A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小
B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变
C.过程处于统计控制状态时，CP≥1
D.异常因素会导致过程失控
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
考题
分析用控制图主要分析内容有（ ）。A.该过程的不合格品率
B.该过程的能力指数是否满足要求（也称技术稳态）
C.所分析的过程是否处于统计控制状态（也称统计稳态）
D.所分析的过程是否满足顾客要求
E.分析过程的合格品率
考题
关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。
A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态
B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态
C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态
D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数Cp
E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
考题
控制用控制图上的点子均在控制限内，只是最后连续15点落在中心线两侧的C 区内，此时正确的处理是( )。
A.判断为过程异常，调查原因
B.无界外点，判断过程处于统计控制状态
C.需要采集更多的样本确认过程是否真的发生变化
D.尚未出现不合格品，可以继续监控
考题
当产品质量特性值分布的均值与公差中心不重合时，（）。A、不合格品率增大，过程能力指数不变B、不合格品率增大，过程能力指数增大C、不合格品率增大，过程能力指数减小D、不合格品率不变，过程能力指数减小
考题
当产品质量特性值分布的均值与公差中心重合时，（）。A、过程能力指数增大，不合格品率减小B、过程能力指数增大，不合格品率增大C、过程能力指数减小，不合格品率增大D、不合格品率不变，过程能力指数减小
考题
单选题当产品质量特性值分布的均值与公差中心不重合时，（）。A
不合格品率增大，过程能力指数不变B
不合格品率增大，过程能力指数增大C
不合格品率增大，过程能力指数减小D
不合格品率不变，过程能力指数减小
考题
单选题当产品质量特性值分布的均值与公差中心不重合时，( )。A
不合格品率增大，过程能力指数不变B
不合格品率增大，过程能力指数增炎C
不合格品率增大，过程能力指数减小 D
不合格品率不变，过程能力指数减小
考题
单选题当产品质量特性值分布的均值与公差中心重合时，( )。A
过程能力指数增大，不合格品率减小B
过程能力指数增大，不合格品率增大C
过程能力指数减小，不合格品率增大D
不合格品率不变，过程能力指数减小
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