考题
JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。
考题
按JB4248-86标准，凡缺陷磁痕尺寸小于1.5mm和发纹可（）、（）
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。
考题
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
考题
JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？
考题
解释磁粉显示时，必须考虑的因素是（）A、磁场的方向B、磁粉显示处的磁场强度C、磁痕的形状和方向D、以上都是
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
考题
JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。
考题
下列关于假磁痕的叙述中，正确的是（）A、指人工缺陷造成的磁痕B、指在没有缺陷处出现的磁痕C、探伤条件相同时，如果在每一试件的相同部位出现同样的磁粉显示，这样的磁痕就不会是假磁痕
考题
当磁场方向与缺陷延伸方向平行时（），发现不了缺陷。A、产生强磁痕显示B、产生弱磁痕显示C、不产生磁痕显示D、模糊的磁痕显示
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
考题
观察磁痕过程中发现可疑缺陷磁痕时，使用粉笔在车轴上画出缺陷磁痕的位置，并详细记录缺陷磁痕的（）。A、位置B、方向C、尺寸大小D、磁痕特征
考题
观察磁痕过程中发现缺陷磁痕时，应标出缺陷磁痕位置，并详细记录缺陷磁痕的（）。A、位置B、方向C、尺寸大小D、以上均不对
考题
JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。A
对B
错
考题
问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。A
对B
错
考题
填空题按JB4248-86标准，凡缺陷磁痕尺寸小于1.5mm和发纹可（）、（）
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。A
对B
错
考题
单选题下列关于假磁痕的叙述中，正确的是（）A
指人工缺陷造成的磁痕B
指在没有缺陷处出现的磁痕C
探伤条件相同时，如果在每一试件的相同部位出现同样的磁粉显示，这样的磁痕就不会是假磁痕
考题
单选题当磁场方向与缺陷延伸方向平行时（），发现不了缺陷。A
产生强磁痕显示B
产生弱磁痕显示C
不产生磁痕显示D
模糊的磁痕显示
