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JB/T4730.4-2005标准规定:长宽比大于3的缺陷磁痕,按线性缺陷处理,长宽比小于3的缺陷磁痕,按圆形缺陷处理。


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考题 JB/T4730-2005标准将长宽比小于或等于3的缺陷定义为 圆形缺陷。此题为判断题(对,错)。

考题 JB/T4730标准规定,缺陷磁痕的显示记录可采用()、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。

考题 JB/T4730.4-2005标准规定:两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时,按一条磁痕处理,其长度为两条磁痕之和加间距。

考题 JB/T4730.4-2005标准规定:当辩认细小缺陷磁痕时应用2~10倍放大镜进行观察。

考题 JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测的工件表面不得有油脂、铁锈、氧化皮或其它粘附磁粉的物质。

考题 JB/T4730.4-2005标准规定:承压设备焊缝及其坡口表面磁粉检测时不允许横向缺陷存在。

考题 JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的?

考题 JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时一般应选用A1-60/100型标准试片。

考题 JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求?

考题 JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图标示。

考题 JB/T4730.4-2005标准规定:非荧光磁粉检测时,被检工件表面的可见光照度应大于等于1000Lx。

考题 JB/T4730.4-2005标准规定对在用承压设备的磁粉检测有何要求?

考题 JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的,没有涉及缺陷的定性。

考题 长宽比大于等于3的缺陷显示为线性缺陷迹痕,长宽比不大于3的缺陷显示为圆形缺陷迹痕。

考题 JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时,长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。

考题 JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测用的磁探机应定期进行校验,并有记录可查。

考题 JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。

考题 判断题JB/T4730.4-2005标准规定:当辩认细小缺陷磁痕时应用2~10倍放大镜进行观察。A 对B 错

考题 判断题JB/T4730.4-2005标准规定:两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时,按一条磁痕处理,其长度为两条磁痕之和加间距。A 对B 错

考题 判断题JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时,长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。A 对B 错

考题 判断题JB/T4730.4-2005标准规定:长宽比大于3的缺陷磁痕,按线性缺陷处理,长宽比小于3的缺陷磁痕,按圆形缺陷处理。A 对B 错

考题 问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的?

考题 判断题JB/T4730.4-2005标准规定:承压设备焊缝及其坡口表面磁粉检测时不允许横向缺陷存在。A 对B 错

考题 判断题JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图标示。A 对B 错

考题 判断题JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的,没有涉及缺陷的定性。A 对B 错

考题 判断题JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。A 对B 错

考题 判断题长宽比大于等于3的缺陷显示为线性缺陷迹痕,长宽比不大于3的缺陷显示为圆形缺陷迹痕。A 对B 错