考题
JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
考题
JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）A、相关显示B、非相关显示C、伪显示D、以上都是
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。
考题
按JB4248-86标准，凡缺陷磁痕尺寸小于1.5mm和发纹可（）、（）
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。
考题
JB3965-85中规定，磁痕线性显示是指长度大于宽度的两倍
考题
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
考题
JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。
考题
当磁场方向与缺陷延伸方向平行时（），发现不了缺陷。A、产生强磁痕显示B、产生弱磁痕显示C、不产生磁痕显示D、模糊的磁痕显示
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。
考题
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
考题
试件的几何形状或磁导率的变化等均可形成磁痕，这些磁痕是（）显示。
考题
JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。A
对B
错
考题
问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同时应用草图标示。A
对B
错
考题
填空题按JB4248-86标准，凡缺陷磁痕尺寸小于1.5mm和发纹可（）、（）
考题
单选题JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）A
相关显示B
非相关显示C
伪显示D
以上都是
考题
填空题JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。A
对B
错
考题
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。A
对B
错
考题
单选题当磁场方向与缺陷延伸方向平行时（），发现不了缺陷。A
产生强磁痕显示B
产生弱磁痕显示C
不产生磁痕显示D
模糊的磁痕显示
