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能谱仪是利用特征X射线的波长进行成分分析。


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考题 荧光分光光度法是利用物质吸收可见一紫外光后发射的A、X-射线来进行分析B、磷光来进行分析C、红外光来进行分析D、波长较照射光波长为长的光进行分析E、波长较照射光波长为短的光进行分析

考题 关于特征X线的叙述,正确的是A、X线波长仅与管电压有关B、K线系的最低激发电压最小C、内层轨道电子发射出的X线为特征放射D、X射线谱是连续能谱E、管电压升高特征放射能量增加

考题 关于特征X线的叙述,正确的是A.X线波长仅与管电压有关射线B.X射线谱是连续能量谱SXB 关于特征X线的叙述,正确的是A.X线波长仅与管电压有关射线B.X射线谱是连续能量谱C.电压升高特征放射能量增加D.管电压升高特征射线的百分比减少

考题 连续谱X射线穿透物体时,较长波长的成分不断减弱,表现为射线的不断“硬化”

考题 单色X射线束是()A、窄X射线束B、标识X射线束C、连续谱X射线束D、由单一波长组成的X射线束

考题 X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为()A、全谱段波长B、0.001~10nmC、0.01~120nmD、0.1~800nm

考题 在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分,同时在进行多元素分析时,滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。

考题 X射线荧光光谱分析中,对于不同元素的同名谱线,随着原子序数的增加,波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点,主要是由各种元素的化学成分决定的。

考题 特征X射线束是()A、具有特定能量与波长的X射线束B、能量与波长不定的X射线束C、单一波长的X射线束D、含有多种波长的X射线束

考题 X射线管产生的一次X射线束是(),二次X射线束是()。A、连续谱+特征谱B、纯特征谱C、连续谱D、散射线

考题 X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的()波长所组成,其中各条特征谱线的()强度各不相同。A、不连续B、连续C、散射D、相对

考题 波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

考题 能量色散型X射线荧光光谱仪利用()进行定性分析。A、脉冲数/秒B、能谱图峰位(脉冲高度)C、能谱图的峰高D、透光度

考题 X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与()之间,是一种能()吸收某波长或波带的金属薄膜。A、样品B、晶体C、选择性地D、反射

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征

考题 关于特征X线的叙述,正确的是()A、X线波长仅与管电压有关B、外层轨道电子跃迁产生X线为特征X线C、X射线谱是连续能量谱D、电压升高特征放射能量增加E、管电压升高特征射线的百分比减少

考题 单选题X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为()A 全谱段波长B 0.001~10nmC 0.01~120nmD 0.1~800nm

考题 问答题简述能谱仪、俄歇谱仪和X光电子能谱仪都可作成分分析,它们各自的特点如何?

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考题 判断题连续谱X射线穿透物体时,较长波长的成分不断减弱,表现为射线的不断“硬化”A 对B 错

考题 填空题X射线的本质是(),其波长为()。它既具有(),又具有(),X射线衍射分析是利用了它的()。X射线的核心部件是()。

考题 填空题X射线连续谱图形变化规律中,当管压增高。连续谱各波长的相对强度相应(),且()都向短波方向移动。随管电流.管电压的改变,特征X射线谱的谱线只改变()而特征X射线的波长取决于阳极靶的元素的(),每个特征谱线都对应一个特定的()。

考题 问答题什么是X射线?什么是特征X射线(标识X射线)谱?特征X射线可用于对材料进行哪两方面的分析?

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