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波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。

  • A、反射
  • B、衍射
  • C、折射
  • D、特征

参考答案

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考题 波长色散X射线荧光光谱仪的检定周期为()。A、2年B、1年C、6个月

考题 ()是X射线荧光光谱仪的分光器件。A、石英棱镜B、光栅C、分光晶体D、卤素盐棱镜

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考题 波长色散X射线荧光光谱仪上,在晶体和探测器之间的光束是()光束。A、混合B、连续C、单色D、散射

考题 X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

考题 波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言,灵敏度与分辨率成正比关系,高的色散率晶体往往反射率低。

考题 X射线荧光光谱仪采用()作为分光元件。A、棱镜B、光栅C、晶体D、入射狭缝

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感,温度变化会引起晶体面间距值的变化,导致谱线的位移。

考题 ()是X射线荧光光谱仪的分光器件。A、石英棱镜B、光栅C、分光晶体D、卤化物棱镜

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线()转换成()的装置。A、光子能量B、光波C、电脉冲D、电流

考题 X射线荧光光谱仪均使用分光晶体。

考题 波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有()、()、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪可分为扫()、()和()三种类型。

考题 顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、()、准直器、测角仪、()以及样品室、计数电路和计算机组成。

考题 具有将x射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的主件是()。A、计数器B、放大器C、分光晶体D、测角仪

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与()之间,是一种能()吸收某波长或波带的金属薄膜。A、样品B、晶体C、选择性地D、反射

考题 波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时,计数率和X射线真实强度不成正比,这种现象称作()现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收

考题 在扫描型波长色散X射线荧光光谱仪中一般都采用SC和FPC两种探测器探测器。

考题 ()是指X射线入射晶体后波长变大的现象。

考题 填空题()是指X射线入射晶体后波长变大的现象。