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X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。

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考题 关于射线能量与原子序数对衰减的影响,叙述错误的是 A、在X线诊断能量范围内，X线能量增加，光电作用的比例下降B、原子序数提高，则光电作用增加C、对于低原子系数的物质，当X线能量增加时，衰减减少D、对于高原子系数物质，当X线能量增加时，衰减可能增加E、对于高原子系数物质，当X线能量增加时，衰减一定减少
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考题 X射线透过滤线板后（）A、强度增加，谱线范围变窄；B、能量增加，谱线范围变宽；C、射线变硬，谱线范围变宽；D、射线变硬，谱线范围变窄；E、射线变软，谱线范围变窄；
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考题 在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
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考题 电网设备的光谱分析检验常用哪种设备（）A、看谱镜B、光电光谱分析仪C、手持式X射线光谱仪D、荧光光谱仪
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考题 X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为（）A、全谱段波长B、0.001～10nmC、0.01～120nmD、0.1～800nm
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考题 在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
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考题 在X射线荧光分析中，重元素谱线复杂而且较为接近，所以要选择（）准直器以提高分辨率。A、细B、粗C、超粗
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考题 波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
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考题 X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
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考题 以下说法错误的是（）A、X射线荧光光谱分析时，枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时，严禁雨天在室外进行光谱分析工作，避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时，严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时，人和机器要有防坠装置
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考题 在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
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考题 X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
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考题 X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。A、不连续B、连续C、散射D、相对
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考题 X射线荧光光谱分析中，各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长，随原子序数的大小而变化，与管电压和管电流的大小也有关。
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考题 X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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考题 X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
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考题 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
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考题 在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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考题 X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度
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考题 波长色散X射线荧光K系谱线相对强度在不同元素间变化范围较大，测得的准确度也较高，而L和M谱线系的相对强度变化较小。
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考题 在X射线光谱分析中，光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长。A、小于B、等于C、大于
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考题 在X荧光内标元素加入法中，对于原子序数（Z）大于23号的待测元素的Kα线，原子序数为的（）元素是理想的内标元素。
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考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的（）现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的（）谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征
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考题 X射线通过滤线板后：（）  A、强度增加，谱线范围变窄；B、能量增加，谱线范围变宽；C、射线变硬，谱线范围变宽；D、射线变硬，谱线范围变窄。
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考题 填空题特征X射线是由元素原子中（）引起的，因此各元素都有特定的（）和（）电压，特征谱与原子序数之间服从（）定律。
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考题 判断题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。A 对B 错
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考题 多选题手持式X射线荧光光谱分析仪，以下不可检测的元素成分是（）AMoBBCSnDN
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