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1、适当增加测量次数求平均可以减少系统误差。

参考答案和解析
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考题 精密测量中,适当增加测量次数的目的是()。 A、减少系统误差B、减少随机误差C、减少平均值的实验标准差和发现粗大误差D、减少实验标准差
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考题 增加平衡测定次数，可以减少分析结果的系统误差。此题为判断题(对，错)。
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考题 测量系统和测量条件不变时,增加重复测量的次数,并不能减少() A、随机误差B、系统误差C、疏忽误差D、偶然误差
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考题 在以下方法中,()可减少系统误差对测量的影响。 A.增加测量次数B.正确使用测量仪表C.对测量结果引入适当的修正D.多次测量取平均值
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考题 要得到比较准确的结果,除选择适当的测定方法(如微量组分用比色法,常量组分用滴定法或重量法)外,还应当设法消除可能发生的误差.如一.减少测量误差;二.消除系统误差;三.适当增加平行测量的次数,可以减少偶然误差。此题为判断题(对，错)。
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考题 增加平行测定次数，可以减少分析结果的系统误差。A对B错
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考题 下面方法中，（）可减少系统误差对测量的影响？A、增加测量次数B、认真正确地使用测量仪表C、找出误差产生原因，对测量结果引入适当的修正来消除D、多次测量取平均值，即系统误差全消除
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考题 取多次重复测量的平均值来表示测量结果可以减少（）。A、定值系统误差B、变值系统误差C、随机误差D、粗大误差
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考题 下面哪种方法可减少系统误差对测量的影响（）。A、增加测量次数B、认真正确地使用测量仪表C、找出误差产生原因，对测量结果引入适当的修正来消除D、多次测量取平均值，即系统误差全消除
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考题 以下关于测量结果算术平均值的描述错误的是（）。A、如果测量不存在系统误差，测量次数越多，算术平均值越接近真值B、如果测量不存在系统误差，测量次数足够多时算术平均值就是真值C、当测量不存在系统误差时，有限次测量的算术平均值是真值的最佳估计值D、即使测量不存在系统误差，测量的算术平均值只是接近真值而不会是真值
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考题 增加测量次数，用平均值报检测结果，可减少测量（系统）误差。
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考题 增加测定次数可以减少分析中的系统误差。
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考题 （）可以通过适当增加测量次数求平均值的方法来减小其误差。A、系统误差B、粗大误差C、随机误差D、相对误差
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考题 可减少系统误差对测量影响的方法是（）A、增加测量次数B、认真正确地使用测量仪表C、找出误差产生原因，对测量结果引入适当的修正D、多次测量取平均值，即系统误差全消除
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考题 只增加测量次数，可以减少系统误差对测量的影响。
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考题 系统误差产生在测量之前，具有确定性，它与测量次数有关，可以用增加测量次数的方法使之消除或减少。
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考题 增加测定次数可以减少（）。A、方法误差B、偶然误差C、系统误差D、主观误差
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考题 哪种对于减少系统误差的办法无用（）。A、仪器校准B、空白实验C、增加测量次数D、标准物质对比分析
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考题 由于系统误差在测量条件不变时有确定的大小和正负号，因此在同一测量条件下多次测量求平均值能够减少误差或消除它。
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考题 增加平行测定次数，可以减少分析结果的系统误差。
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考题 增加测量次数，用平均值报检测结果，可减少测量随机误差的影响。
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考题 增加测量次数，用平均值报检测结果，可减少测量系统误差的影响。
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考题 大量的随机误差服从正态分布，一般说来增加测量次数求平均可以减小随机误差。
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考题 对系统误差，通常有以下几种消除方法：（）。A、采用特殊的测量方法B、正确调校和使用仪器设备C、预先研究误差予以适当的更正D、可用增加测量次数的方法给予限制或减少
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考题 作精密测量时，适当增多测量次数的主要目的（）A、减少试验标准差B、减少平均值的实验标准差和发现粗差C、减少随机误差和系统误差D、减少人为误差和附加误差
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考题 测量系统和测量条件不变时，增加重复测量的次数，并不能减少（）。A、随机误差；B、系统误差；C、疏忽误差；
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考题 单选题下面方法中，（）可减少系统误差对测量的影响？A 增加测量次数B 认真正确地使用测量仪表C 找出误差产生原因，对测量结果引入适当的修正来消除D 多次测量取平均值，即系统误差全消除
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考题 判断题增加测量次数，用平均值报检测结果，可减少测量系统误差的影响。A 对B 错
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