网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:

题目内容 (请给出正确答案)

显像过程中,渗透剂从缺陷中回渗到显像剂中形成缺陷显示痕迹,实质上主要是液体的毛细现象。


参考答案

更多 “显像过程中,渗透剂从缺陷中回渗到显像剂中形成缺陷显示痕迹,实质上主要是液体的毛细现象。” 相关考题
考题 缺陷显示痕迹,指渗入缺陷中的渗透剂在被检物表面析出时呈现的痕迹。() 此题为判断题(对,错)。

考题 显像剂的目的是回渗缺陷中的渗透和提供背景。

考题 在被检工件上施加显像剂的目的是从缺陷中吸附渗透剂并提供背景反差

考题 下面有关显示评估的叙述中,错误的是()A、显示越明显说明缺陷严重性较高B、显示形成的时间与缺陷大小无关C、把显示连同显像剂小心擦掉,再施加显像剂,若显示可重现的次数越多,说明缺陷越深D、显示的亮度也可作为判断缺陷严重程度的依据之一

考题 下面关于渗透检测中显像剂的说法中错误的是()。A、显像剂可能发出荧光B、显像剂应与缺陷显示形成较大的色差C、显像剂容易被缺陷中的渗透液所润湿并吸出足量渗透液D、分为干式与湿式显像剂

考题 能吸出保留在表面开口缺陷中的渗透液从而形成略微扩大的缺陷显示的材料叫()A、显像剂B、渗透剂C、干燥剂D、以上都是

考题 下述干燥过程哪些是对的?()A、干燥过程除了可清除工件表面水分以外,由于温度升高还可增加缺陷内渗透液的粘度与表面张力使显像剂容易吸附渗透剂形成显示B、干燥过程除了可清除工件表面水分以外,由于温度升高还可减低缺陷内渗透液的粘度与表面张力使显像剂容易吸附渗透剂形成显示C、以上都对D、以上都错

考题 下列哪一条不是显像剂成份本身的作用()。A、将渗透剂从缺陷中吸出来B、有助于形成缺陷图象C、增强渗透剂的荧光D、有助于控制渗出

考题 渗透剂的粘度值如果太高,则渗透速度就减慢,如果粘度太低,缺陷中的渗透剂可能大量(),会掩盖各种缺陷。A、挥发B、回渗C、不能被显像剂显像D、干在缺陷内

考题 下列哪种是干粉显像剂的主要显示作用?()A、毛细作用B、显像剂在缺陷内的膨胀作用C、溶解于缺陷内的渗透液中D、提供一个均匀薄膜以形成对比背景

考题 显像过程中,渗透剂从缺陷中回渗到显像剂中形成缺陷显示迹痕,实质上是液体的毛细现象。

考题 在被工件上施加显像剂的目的是从缺陷中吸收渗透剂并提供背景反差。

考题 在渗透检测过程中,显像剂从缺陷中吸取渗透液到试件表面並扩展、放大的过程称为()。A、渗出B、回渗C、吸附D、显像

考题 不是显像剂成份本身作用的是()。A、将渗透剂从缺陷中吸出来B、有助于形成缺陷图像C、增强渗透剂的荧光D、有助于控制渗出

考题 ()显示痕迹,指渗入缺陷中的渗透剂在被检物表面析出时呈现的痕迹。

考题 缺陷显示痕迹,指渗入缺陷中的渗透剂在被检物表面析出时呈现的痕迹。

考题 判断题在被工件上施加显像剂的目的是从缺陷中吸收渗透剂并提供背景反差。A 对B 错

考题 判断题显像过程中,渗透剂从缺陷中回渗到显像剂中形成缺陷显示痕迹,实质上主要是液体的毛细现象。A 对B 错

考题 判断题显像过程中,渗透剂从缺陷中回渗到显像剂中形成缺陷显示迹痕,实质上是液体的毛细现象。A 对B 错

考题 单选题渗透剂的粘度值如果太高,则渗透速度就减慢,如果粘度太低,缺陷中的渗透剂可能大量(),会掩盖各种缺陷。A 挥发B 回渗C 不能被显像剂显像D 干在缺陷内

考题 单选题在渗透检测过程中,显像剂从缺陷中吸取渗透液到试件表面並扩展、放大的过程称为()。A 渗出B 回渗C 吸附D 显像

考题 单选题下面关于渗透检测中显像剂的说法中错误的是()。A 显像剂可能发出荧光B 显像剂应与缺陷显示形成较大的色差C 显像剂容易被缺陷中的渗透液所润湿并吸出足量渗透液D 分为干式与湿式显像剂

考题 单选题下面哪一条不是显像剂成分本身的作用?()A 将渗透剂从缺陷中吸出来B 有助于形成缺陷图像C 增强渗透剂的荧光D 有助于控制渗出

考题 单选题下面有关显示评估的叙述中,错误的是()A 显示越明显说明缺陷严重性较高B 显示形成的时间与缺陷大小无关C 把显示连同显像剂小心擦掉,再施加显像剂,若显示可重现的次数越多,说明缺陷越深D 显示的亮度也可作为判断缺陷严重程度的依据之一

考题 判断题缺陷显示痕迹,指渗入缺陷中的渗透剂在被检物表面析出时呈现的痕迹。A 对B 错

考题 单选题下述干燥过程哪些是对的?()A 干燥过程除了可清除工件表面水分以外,由于温度升高还可增加缺陷内渗透液的粘度与表面张力使显像剂容易吸附渗透剂形成显示B 干燥过程除了可清除工件表面水分以外,由于温度升高还可减低缺陷内渗透液的粘度与表面张力使显像剂容易吸附渗透剂形成显示C 以上都对D 以上都错

考题 单选题能吸出保留在表面开口缺陷中的渗透液从而形成略微扩大的缺陷显示的材料叫()A 显像剂B 渗透剂C 干燥剂D 以上都是