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显像过程中，渗透剂从缺陷中回渗到显像剂中形成缺陷显示迹痕，实质上是液体的毛细现象。

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考题 下面关于渗透检测中显像剂的说法中错误的是（）。A、显像剂可能发出荧光B、显像剂应与缺陷显示形成较大的色差C、显像剂容易被缺陷中的渗透液所润湿并吸出足量渗透液D、分为干式与湿式显像剂
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考题 能吸出保留在表面开口缺陷中的渗透液从而形成略微扩大的缺陷显示的材料叫（）A、显像剂B、渗透剂C、干燥剂D、以上都是
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考题 在进行清洗处理和去除处理的过程中，既要防止处理（）而造成的缺陷显示迹痕识别困难，同时也要防止处理（）而使渗透缺陷中的渗透剂也被除去
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考题 显像过程中，渗透剂从缺陷中回渗到显像剂中形成缺陷显示痕迹，实质上主要是液体的毛细现象。
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考题 按ZBJ 04005-87标准规定，圆状缺陷显示迹痕指除了（）缺陷显示迹痕之外的其他缺陷均为圆状缺陷显示迹痕
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考题 由于渗透检测检出的缺陷是开口缺陷，因此只要－出现显示迹痕就可断定显示迹痕必是缺陷。
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考题 下列哪一条不是显像剂成份本身的作用（）。A、将渗透剂从缺陷中吸出来B、有助于形成缺陷图象C、增强渗透剂的荧光D、有助于控制渗出
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考题 渗透剂的粘度值如果太高，则渗透速度就减慢，如果粘度太低，缺陷中的渗透剂可能大量（），会掩盖各种缺陷。A、挥发B、回渗C、不能被显像剂显像D、干在缺陷内
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考题 按ZBJ04005-87标准，当缺陷显示迹痕中最短的迹痕长度小于2mm而间距大于显示迹痕时，则可看作（）缺陷显示迹痕A、单独的B、连续的C、以两缺陷显示迹痕长度之和计算D、以两缺陷显示迹痕长度与间距之和计算
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考题 下列哪种情况可能引起伪缺陷迹痕？（）A、过分的清洗B、显像剂施加不足C、在渗透时渗透剂或工件太冷D、棉绒或污垢
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考题 在被工件上施加显像剂的目的是从缺陷中吸收渗透剂并提供背景反差。
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考题 用后乳化型渗透检验时，乳化时间过长则有可能产生下列哪种结果？（）A、在工件上产生大量无关迹痕B、可造成较浅缺陷的漏检C、在清洗工序后会残留多余的渗透剂D、乳化剂会硬化并阻碍显像剂吸收缺陷内的渗透剂
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考题 长宽比大于等于3的缺陷显示为线性缺陷迹痕，长宽比不大于3的缺陷显示为圆形缺陷迹痕。
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考题 下列（）情况可能引起伪缺陷迹痕。A、 过分的清洗B、 显像剂施加不足C、 在渗透时渗透剂或工件太冷D、 棉绒或污垢
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考题 不是显像剂成份本身作用的是（）。A、将渗透剂从缺陷中吸出来B、有助于形成缺陷图像C、增强渗透剂的荧光D、有助于控制渗出
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考题 单选题按ZBJ04005-87标准，当缺陷显示迹痕中最短的迹痕长度小于2mm而间距大于显示迹痕时，则可看作（）缺陷显示迹痕A 单独的B 连续的C 以两缺陷显示迹痕长度之和计算D 以两缺陷显示迹痕长度与间距之和计算
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考题 判断题显像过程中，渗透剂从缺陷中回渗到显像剂中形成缺陷显示痕迹，实质上主要是液体的毛细现象。A 对B 错
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考题 判断题显像过程中，渗透剂从缺陷中回渗到显像剂中形成缺陷显示迹痕，实质上是液体的毛细现象。A 对B 错
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考题 判断题由于渗透检测检出的缺陷是开口缺陷，因此只要－出现显示迹痕就可断定显示迹痕必是缺陷。A 对B 错
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考题 单选题渗透剂的粘度值如果太高，则渗透速度就减慢，如果粘度太低，缺陷中的渗透剂可能大量（），会掩盖各种缺陷。A 挥发B 回渗C 不能被显像剂显像D 干在缺陷内
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考题 单选题下面关于渗透检测中显像剂的说法中错误的是（）。A 显像剂可能发出荧光B 显像剂应与缺陷显示形成较大的色差C 显像剂容易被缺陷中的渗透液所润湿并吸出足量渗透液D 分为干式与湿式显像剂
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考题 单选题下面哪一条不是显像剂成分本身的作用？（）A 将渗透剂从缺陷中吸出来B 有助于形成缺陷图像C 增强渗透剂的荧光D 有助于控制渗出
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考题 单选题用后乳化型渗透检验时，乳化时间过长则有可能产生下列哪种结果？（）A 在工件上产生大量无关迹痕B 可造成较浅缺陷的漏检C 在清洗工序后会残留多余的渗透剂D 乳化剂会硬化并阻碍显像剂吸收缺陷内的渗透剂
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考题 单选题下列哪种情况可能引起伪缺陷迹痕？（）A 过分的清洗B 显像剂施加不足C 在渗透时渗透剂或工件太冷D 棉绒或污垢
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考题 填空题在进行清洗处理和去除处理的过程中，既要防止处理（）而造成的缺陷显示迹痕识别困难，同时也要防止处理（）而使渗透缺陷中的渗透剂也被除去
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考题 单选题能吸出保留在表面开口缺陷中的渗透液从而形成略微扩大的缺陷显示的材料叫（）A 显像剂B 渗透剂C 干燥剂D 以上都是
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考题 填空题按ZBJ 04005-87标准规定，圆状缺陷显示迹痕指除了（）缺陷显示迹痕之外的其他缺陷均为圆状缺陷显示迹痕
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