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X一射线荧光分析仪可测定宝石的化学成分和含量。

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考题 常用哪些大型仪器来测定宝石矿物包裹体的主要成分：（）A、红外光谱      B、拉曼光谱      C、X－射线荧光仪  D、电子探针
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考题 测定宝石的化学成分可选择下列的什么方法：（）A、X－射线衍射    B、X－荧光能谱分析  C、红外光谱    D、化学分析
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考题 下列哪些仪器可用来测定蓝宝石中Be的含量：（）A、X－荧光分析仪B、阴极发光仪C、LIBSD、ICP－MS
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考题 原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。
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考题 原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
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考题 手持式X射线荧光光谱仪的镀层模式，是检测镀层元素含量的。
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考题 X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度
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考题 在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光
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考题 波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有（）、（）、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。
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考题 X射线荧光熔融法测定矿石中铁，钴是作为（）加入的。
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考题 在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线
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考题 X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
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考题 X射线荧光光谱仪的X射线分为两种即原级X射线和次级X射线，一般说来，原级X射线的波长比次级的长。
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考题 能量色散X射线荧光法元素激发条件可用（）控制。A、调节X射线管电压B、调节X射线管电流强度C、增加测定时间D、增加X射线强度
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考题 实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射，下列能够产生X射线的仪器是（）。A、X射线衍射仪B、721分光光度计C、X射线荧光分析仪D、气相色谱
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考题 无损伤鉴定宝石气相包裹体成分的方法有：（）.A、电子探针成分分析B、X射线荧光分析C、X射线能谱分析D、激光拉曼光谱分析
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考题 确定宝石内部包裹体的仪器可以使用（）A、电子探针B、拉曼探针C、红外光谱仪D、X－荧光分析仪
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考题 鉴定宝石包裹体的有效仪器是：（）A、X－射线荧光分析仪   B、拉曼探针     C、阴极发光仪    D、红外光谱仪
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考题 ⅹ射线在宝石鉴定中可（）。A、测试化学成分B、区分宝石真伪C、确定晶体结构D、A+C
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考题 问答题特征X射线和荧光X射线产生的机理有何异同？某物质的K系荧光X射线是否等于它的K系特征X射线？
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考题 多选题实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射，下列能够产生X射线的仪器是（）。AX射线衍射仪B721分光光度计CX射线荧光分析仪D气相色谱
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考题 单选题原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A 原子荧光分析法B X射线荧光分析法C X射线吸收分析法D X射线发射分析法
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考题 多选题手持式X射线荧光光谱分析仪，以下不可检测的元素成分是（）AMoBBCSnDN
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考题 判断题原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。A 对B 错
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