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单选题
杂质分布一般与原料药的()有关。
A

所用原辅料

B

合成工艺和所用起始原料

C

精制工艺和所用起始原料

D

生产工艺和所用起始原料


参考答案

参考解析
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考题 在自然界中分布较广泛,在多种药物的生产和贮藏过程中容易引入的杂质称为( )A.特殊杂质B.一般杂质C.基本杂质D.有关杂质E.有关物质

考题 在自然界中分布较广泛,在多种药物的生产和贮藏过程中容易引入的杂质称为 A、特殊杂质B、一般杂质C、基本杂质D、有害杂质E、有关物质

考题 药物制剂的检查中,下列说法正确的是( )A.应进行的杂质检查项目与原料药的检查项目相同B.还应进行制剂学方面(如片重差异、崩解时限等)的有关检查C.应进行的杂质检查项与辅料的检查项目相同D.不再进行杂质检查

考题 关于制剂分析与原料药分析,下列结果说法中不正确的是A.在制剂分析中,对所用原料药物所做的检查项目均需检查B.制剂中的杂质,主要来源于制剂中原料药物的化学变化和制剂的制备过程C.制剂分析增加了各制剂的常规检验法D.分析结果的表示方法不同于原料药的表示方法E.含量限度的要求与原料药不同,一般原料药分析方法的准确度要求更高

考题 在自然界中分布较广泛,在多种药物的生产和贮藏过程中容易引入的杂质称为A:特殊杂质 B:一般杂质 C:基本杂质 D:有关杂质 E:有关物质

考题 杂质检查一般是()。A、为限度检查B、为含量检查C、检查最低量D、检查最大允许量E、用于原料药检查

考题 制剂通常是以符合药品质量标准的原料药按一定生产工艺制备而成,因此在进行杂质检查时不需要检查的项目是()A、水分B、原料药的检查项目C、一般杂质D、特殊杂质E、炽灼残渣

考题 药物制剂的检查中().A、杂质检查项目应与原料药的检查项目相同B、杂质检查项目应与辅料的检查项目相同C、杂质检查主要是检查制剂生产、贮存过程中引入或产生的杂质D、不再进行杂质检查E、除杂质检查外还应进行制剂学方面的有关检查

考题 原料药生产污染的控制要求有()。A、同一中间产品或原料药的残留物带入后续数个批次中的,应当严格控制B、带入的残留物不得引入降解物或微生物污染,也不得对原料药的杂质分布产生不利影响C、生产操作应当能够防止中间产品或原料药被其它物料污染D、原料药精制后的操作,应当特别注意防止污染

考题 杂质分布一般与原料药的()有关。A、所用原辅料B、合成工艺和所用起始原料C、精制工艺和所用起始原料D、生产工艺和所用起始原料

考题 应当定期将产品的杂质分析资料与注册申报资料中的杂质档案,或与以往的杂质数据相比较,查明()变更所致原料药质量的变化。A、原料B、设备运行参数C、生产工艺D、生产设备

考题 应当按照经验证的操作规程进行原料药的重新加工,将重新加工的每个批次的()与正常工艺生产的批次进行比较。A、产品收率B、产品含量C、杂质分布D、有关物质

考题 原料药杂质档案应该包括什么内容?

考题 同一中间产品或原料药的残留物带入后续数个批次中,对带入残留物的要求不包括()。A、未引入降解物B、无微生物污染C、对杂质分布无不利影响D、未增加杂质量

考题 原料药质量标准对杂质的控制应当包括()。A、细菌内毒素B、有机杂质C、无机杂质D、残留溶剂

考题 应当定期将产品的杂质分析资料与()中的杂质档案,或与以往的杂质数据相比较,查明原料、设备运行参数和生产工艺的变更所致原料药质量的变化。

考题 工艺验证应当证明每种原料药中的杂质都在()内。

考题 单选题杂质检查一般(  )。A 检查最大允许量B 为含量检查C 检查最低量D 为限度检查E 用于原料药检查

考题 填空题应当定期将产品的杂质分析资料与()中的杂质档案,或与以往的杂质数据相比较,查明原料、设备运行参数和生产工艺的变更所致原料药质量的变化。

考题 单选题制剂通常是以符合药品质量标准的原料药按一定生产工艺制备而成,因此在进行杂质检查时不需要检查的项目是()A 水分B 原料药的检查项目C 一般杂质D 特殊杂质E 炽灼残渣

考题 多选题应当定期将产品的杂质分析资料与注册申报资料中的杂质档案,或与以往的杂质数据相比较,查明()变更所致原料药质量的变化。A原料B设备运行参数C生产工艺D生产设备

考题 单选题同一中间产品或原料药的残留物带入后续数个批次中,对带入残留物的要求不包括()。A 未引入降解物B 无微生物污染C 对杂质分布无不利影响D 未增加杂质量

考题 单选题应当按照经验证的操作规程进行原料药的重新加工,将重新加工的每个批次的()与正常工艺生产的批次进行比较。A 产品收率B 产品含量C 杂质分布D 有关物质

考题 问答题原料药杂质档案应该包括什么内容?

考题 单选题杂质分布一般与原料药的()有关。A 所用原辅料B 合成工艺和所用起始原料C 精制工艺和所用起始原料D 生产工艺和所用起始原料

考题 填空题扩散的目的是为了实现对半导体掺杂,杂质扩散的深度与()有关,服从()。杂质扩散通常分为等表面浓度扩散,也(),和固定杂质总量扩散,也称()。预淀积的分布是()函数,再分布扩散的杂质呈()函数分布。

考题 多选题原料药生产污染的控制要求有()。A同一中间产品或原料药的残留物带入后续数个批次中的,应当严格控制B带入的残留物不得引入降解物或微生物污染,也不得对原料药的杂质分布产生不利影响C生产操作应当能够防止中间产品或原料药被其它物料污染D原料药精制后的操作,应当特别注意防止污染

考题 多选题原料药质量标准对杂质的控制应当包括()。A细菌内毒素B有机杂质C无机杂质D残留溶剂