考题
单模光纤本征因素对连接损耗影响最大的是模场直径。此题为判断题(对，错)。
考题
单模光纤连接损耗的产生原因中，影响最大的本征因素是模场直径，当采用熔接法接续时，影响连接损耗的外界因素主要是轴向倾斜，轴心错位，纤芯变形。此题为判断题(对，错)。
考题
产生光纤接头损耗的光纤本征因素有两光纤芯径失配、同心度不良、数值孔径失配等,造成漏光。()
此题为判断题(对，错)。
考题
光纤中由于石英材料的电子谐振和分子谐振造成光信号的衰减,这种损耗机制称为()。
A、本征吸收B、非本征吸收C、瑞利散射D、波导缺陷
考题
因本征因素单模影响光纤连接损耗最大的是( )。A.模场直径B.数值孔径C.光纤线径D.纤芯相对折射率差
考题
产生光纤接头损耗的光纤本征因素有:两端光纤轴向偏移,纵向间隙,端面分离,轴向倾斜,光纤端面不整齐和污染。()
此题为判断题(对，错)。
考题
造成光纤衰减的因素有很多，但是主要因素有：本征，弯曲，挤压，杂质，不均匀和对接等。
考题
下列损耗中不属于光纤本征损耗的是（）。A、杂质吸收损耗B、在红外、紫外区玻璃的固有吸收损耗C、瑞利散射损耗D、光纤结构上不完善造成的损耗
考题
对于单模光纤，由于本征因素引起连接损耗的主要因素是（）A、相对折射率差B、芯/包层不圆度C、模场直径D、数值孔径
考题
产生光纤接头损耗的光纤本征因素有：两端光纤轴向偏移，纵向间隙，端面分离，轴向倾斜，光纤端面不整齐和污染。
考题
光纤的损耗包括本征损耗和非本征损耗，其中对本征损耗影响较大的是（）。A、本征吸收和光纤微弯B、本征吸收和瑞利散射C、原子缺陷吸收和瑞利散射D、光纤弯曲和波导散射
考题
光纤的本征损耗是否可以避免？它是什么原因造成的？
考题
单模光纤本征因素中对连接损耗影响最大的是（）不匹配。A、数值孔径NAB、模场直径C、光纤几何参数D、光纤截止波长
考题
单模光纤连接损耗的产生原因中，影响最大的本征因素是（ ），当采用熔接法接续时，影响连接损耗的外界因素主要是轴向倾斜，（）（）
考题
单模光纤本征因素对连接损耗影响最大的是模场直径。
考题
因本征因素影响多模光纤连接损耗最大的是（）。A、纤芯相对折射率差B、光纤芯径C、包层外径D、数值孔径
考题
单模光纤本征因素对接头损耗影响最大的是（）。A、模场直径B、外径不圆度C、光纤间隙D、粒子散射
考题
产生光纤接头损耗的光纤本征因素有：两光纤芯径失配，同心度不良，数值孔径失配等，造成漏光。
考题
光纤中氢氧根离子造成的损耗属于（）。A、本征吸收B、红外吸收C、杂质散射D、杂质吸收
考题
造成光纤衰减的主要因素有：本征、（）、挤压、杂质，不均匀和对接等。
考题
判断题产生光纤接头损耗的光纤本征因素有：两光纤芯径失配，同心度不良，数值孔径失配等，造成漏光。A
对B
错
考题
判断题产生光纤接头损耗的光纤本征因素有：两端光纤轴向偏移，纵向间隙，端面分离，轴向倾斜，光纤端面不整齐和污染。A
对B
错
考题
填空题造成光纤衰减的主要因素有：本征、（）、挤压、杂质，不均匀和对接等。
考题
单选题光纤连接损耗的（）是指光纤自身因素，它是由光纤的变化引起的，当两根不同类型的光纤连接组一起的时候，会导致本征损耗。A
本征因素B
非本征因素C
现场施工D
接续技术
考题
单选题光纤连接损耗的非本征因素是指（）引起的光纤连接损耗。A
非本征因素B
接续技术C
接续损耗D
本征因素
