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影响光纤熔接损耗的本征因素有那些?


参考答案

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考题 单模光纤连接损耗的产生原因中,影响最大的本征因素是模场直径,当采用熔接法接续时,影响连接损耗的外界因素主要是轴向倾斜,轴心错位,纤芯变形。此题为判断题(对,错)。

考题 产生光纤接头损耗的光纤本征因素有两光纤芯径失配、同心度不良、数值孔径失配等,造成漏光。() 此题为判断题(对,错)。

考题 因本征因素单模影响光纤连接损耗最大的是( )。A.模场直径B.数值孔径C.光纤线径D.纤芯相对折射率差

考题 产生光纤接头损耗的光纤本征因素有:两端光纤轴向偏移,纵向间隙,端面分离,轴向倾斜,光纤端面不整齐和污染。() 此题为判断题(对,错)。

考题 光纤的熔接头损耗与光纤的临时接头损耗大致相等。() 此题为判断题(对,错)。

考题 光纤接头损耗可通过光纤熔接机上的监测表测得。()

考题 光纤接头损耗可通过光纤熔接机上的监测表测得。( )

考题 光纤通道的衰减原因有( )。光纤损耗;连接器的接头损耗;尾纤损耗;永久性熔接损耗

考题 光纤熔接损耗的影响因素包括本征因素和(),前者为光纤自身的一些因素,后者为各种人为因素以及仪器设备等因素对熔接损耗的影响。