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射线探伤时,使用像质计的主要目的是()。

  • A、测量缺陷的大小
  • B、测量缺陷的位置
  • C、测量缺陷的几何不清楚度
  • D、确定底片的彩像质量

参考答案

更多 “射线探伤时,使用像质计的主要目的是()。A、测量缺陷的大小B、测量缺陷的位置C、测量缺陷的几何不清楚度D、确定底片的彩像质量” 相关考题
考题 阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A、阶梯孔型像质计更灵敏些B、丝型像质计更灵敏些C、两者灵敏性相同D、以上都不是

考题 使用孔洞型像质计作焊缝射线检测时应加垫片,其作用为()A、改善像质计影像B、降低电子发射C、模拟焊缝的补强高度D、增强影像

考题 下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较

考题 像质计是判别射线照像质量和测定照像灵敏度的器件。

考题 以下属于射线拍片时使用的相关器材是()A、增感屏B、光照计C、像质计D、暗袋

考题 以下有关放置像质计的说法正确的是()A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中,在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端,像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对

考题 最广泛使用的像质计型式主要是()A、丝型像质计B、阶梯孔型像质计C、平板孔型像质计D、以上都是

考题 有关像质计使用的说法正确的是()A、摆放像质计时,摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时,像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对

考题 射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A、测量缺陷大小B、测量底片黑度C、测量几何不清晰度D、衡量透照底片的影像质量

考题 工业射线照相用的像质计大致有()A、金属丝型像质计B、孔型像质计C、槽型像质计D、以上都是

考题 射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A、射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B、射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C、对所有像质计统一规定的像质指数D、以上都不是

考题 下面关于像质计的叙述中,正确的是()A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D、以上都不对

考题 以下有关对比试验的说法正确的是()A、像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B、如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时,可通过对比试验进行修正C、像质计应横跨焊缝放置D、以上都对

考题 “监督检验机构检验发现射线探伤底片的像质不达标,探伤人员调整探伤规范后重新探伤”适用于这一情景的条款是()。

考题 射线源和胶片处于工件两面,透照时的像质计应如何放置?为什么?

考题 单选题射线探伤时,使用像质计的主要目的是()。A 测量缺陷的大小B 测量缺陷的位置C 测量缺陷的几何不清楚度D 确定底片的彩像质量

考题 单选题工业射线照相用的像质计大致有()A 金属丝型像质计B 孔型像质计C 槽型像质计D 以上都是

考题 单选题射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A 测量缺陷大小B 测量底片黑度C 测量几何不清晰度D 衡量透照底片的影像质量

考题 单选题射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A 射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B 射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C 对所有像质计统一规定的像质指数D 以上都不是

考题 单选题最广泛使用的像质计型式主要是()A 丝型像质计B 阶梯孔型像质计C 平板孔型像质计D 以上都是

考题 多选题以下属于射线拍片时使用的相关器材是()A增感屏B光照计C像质计D暗袋

考题 单选题使用孔洞型像质计作焊缝射线检测时应加垫片,其作用为()A 改善像质计影像B 降低电子发射C 模拟焊缝的补强高度D 增强影像

考题 单选题以下有关对比试验的说法正确的是()A 像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B 如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时,可通过对比试验进行修正C 像质计应横跨焊缝放置D 以上都对

考题 问答题在射线检测诊断中最广泛使用的像质计是哪三种?

考题 单选题有关像质计使用的说法正确的是()A 摆放像质计时,摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B 采用单壁透照法时,像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C 当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D 以上都对

考题 单选题阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A 阶梯孔型像质计更灵敏些B 丝型像质计更灵敏些C 两者灵敏性相同D 以上都不是

考题 单选题下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A 像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B 像质计形状与尺寸都是已知的C 像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D 像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较