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下面关于像质计的叙述中，正确的是（）
- A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式，规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法，它们之间不能简单换算
- B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式，但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的
- C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同，就意味着射线照片的影像质量相同
- D、以上都不对
参考答案
更多 “下面关于像质计的叙述中，正确的是（）A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式，规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法，它们之间不能简单换算B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式，但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同，就意味着射线照片的影像质量相同D、以上都不对” 相关考题
考题
按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，单壁透照中，如果像质计无法放在源侧而放在胶片侧时，应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告上注明。()
考题
下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
考题
以下有关放置像质计的说法正确的是（）A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中，在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端，像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对
考题
有关像质计使用的说法正确的是（）A、摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对
考题
以下有关对比试验的说法正确的是（）A、像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B、如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时，可通过对比试验进行修正C、像质计应横跨焊缝放置D、以上都对
考题
在下列叙述中，与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是：（）A、双壁单影透照像质计放置在胶片侧B、当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明C、单壁透照时允许像质计放置在胶片侧，但必须进行对比试验D、当一张胶片上同时透照多条焊接接头时，至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计
考题
单选题下面关于像质计的叙述中，正确的是（）A
各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式，规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法，它们之间不能简单换算B
各种像质计有自己特定的结构和细节形式，但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C
用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同，就意味着射线照片的影像质量相同D
以上都不对
考题
单选题以下有关对比试验的说法正确的是（）A
像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B
如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时，可通过对比试验进行修正C
像质计应横跨焊缝放置D
以上都对
考题
单选题有关像质计使用的说法正确的是（）A
摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B
采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C
当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D
以上都对
考题
单选题下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A
像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B
像质计形状与尺寸都是已知的C
像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D
像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
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