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声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数，温度变化对材料的声阻抗也会有影响。

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考题 假定红细胞静止不动时产生多普勒频移效应的原因为A、声束角度变化B、声波发射频率变化C、传导介质的声学密度改变D、传导介质的声阻抗改变E、红细胞前方组织移动
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考题 如两种介质的波速相等,则它们的声阻抗也一定相等。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 声阻抗是（）A、超声振动的参数B、界面的参数C、传声介质的参数D、以上都不对
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考题 超声波从声阻抗Za的介质透过声阻抗Zb的介质进入声阻抗Zc的介质，若下述等式成立，则透声效果较佳的是（）。A、Za=ZcB、Zb=（Za•Zc）1/2C、Zc=Za•ZbD、Za=Zb•Zc
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考题 材料非均匀性引起的（）变化，也使声速测量技术可以作为材料评价的一种手段。A、声场B、声压C、声阻抗D、声速
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考题 声阻抗（Z）为介质（）与（）的乘积。
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考题 介质密度越高，声阻抗（）。所以超声在固体中传播时声阻抗（）。
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考题 界面由两种相邻的不同声阻抗的介质所构成，界面的厚度是A、0.01μmB、0.1μmC、1.0μmD、0.01mmE、不以厚度衡量，而指两种不同声阻抗介质的接触面
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考题 声阻抗是：（）A、超声波振动的参数B、界面的参数C、传声介质的参数D、反应声速的参数
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考题 耦合剂的声阻抗尽量与被检材料的声阻抗相近。
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考题 声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数，温度变化对材料的声阻抗无任何影响。
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考题 影响直接接触法耦合损耗的原因有（）A、耦合层厚度，超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗B、探头接触面介质声阻抗C、工件被探测面材料声阻抗D、以上都对
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考题 在相同声压下，材料的声阻抗越大，质点（）就越小，因此声阻抗表示超声场中介质对（）的阻碍作用。
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考题 如两种介质的波速相等，则它们的声阻抗也一定相等。
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考题 在声学中，把介质中某点的有效（）与质点振动速度的比值称为声阻抗率。A、声强B、声压C、声幅D、声频
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考题 判断题如两种介质的波速相等，则它们的声阻抗也一定相等。A 对B 错
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考题 填空题在相同声压下，材料的声阻抗越大，质点（）就越小，因此声阻抗表示超声场中介质对（）的阻碍作用。
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考题 填空题介质密度越高，声阻抗（）。所以超声在固体中传播时声阻抗（）。
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考题 单选题在声学中，把介质中某点的有效（）与质点振动速度的比值称为声阻抗率。A 声强B 声压C 声幅D 声频
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考题 判断题声阻抗是衡量介质声学特性的重要参数，温度变化对材料的声阻抗无任何影响。A 对B 错
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考题 单选题声阻抗是：（）A 超声波振动的参数B 界面的参数C 传声介质的参数D 反应声速的参数
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考题 单选题复合材料探伤，由于两介质声阻抗不同，在界面处有回波出现，为了检查复合层结合质量，下面哪条叙述是正确的：（）A 两介质声阻抗接近，界面回波小，不易检查B 两介质声阻抗接近，界面回波大，容易检查C 两介质声阻抗差别大，界面回波大，不易检查D 两介质声阻抗差别大，界面回波小，容易检查
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考题 判断题耦合剂的声阻抗尽量与被检材料的声阻抗相近。A 对B 错
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考题 单选题声阻抗的理解正确的是（　　）。A 声阻抗是表示介质声学特性的一个重要物理量B 声阻抗（Z）等于介质的密度（P）和声速（C）的乘积，即Z＝P×CC 声阻抗的单位是瑞利D 在人体各器官中，气体的声阻抗最小E 以上描述都正确
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考题 单选题下列关于反射系数的描述中，错误的是（　）A 两种介质声阻抗相同时，反射系数为0B 两种介质声阻抗相差很大时，反射系数大C 两种介质声阻抗只要有1‰的差异就会产生反射回波D 声束垂直于界面入射时可得到最佳反射效果E 当一种介质声阻抗值很小时，反射系数总是很小
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考题 单选题影响直接接触法耦合损耗的原因有：（）A 耦合层厚度，超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗B 探头接触面介质声阻抗C 工件被探测面材料声阻抗D 以上都对
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考题 单选题界面由两种相邻的不同声阻抗的介质所构成，界面的厚度是A 0.01μmB 0.1μmC 1.0μmD 0.01mmE 不以厚度衡量，而指两种不同声阻抗介质的接触面
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