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X射线的曝光曲线不能画成直线,主要是因为X射线照相中是宽束连续谱射线


参考答案

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考题 当高能电子束能量增大时,其PDD曲线随能量变化的关系是A、PDD表面剂量减少、坪区增宽、剂量梯度减少以及X射线污染增加B、PDD表面剂量增加、坪区增宽、剂量梯度减少以及X射线污染增加C、PDD表面剂量增加、坪区变窄、剂量梯度减少以及X射线污染增加D、PDD表面剂量增加、坪区增宽、剂量梯度增大以及X射线污染增加E、PDD表面剂量增加、坪区增宽、剂量梯度减少以及X射线污染减少

考题 X射线管的管电压值影响射线的哪一参数?() A、X射线束的能量B、X射线束的强度C、X射线束的能量和强度D、X射线束的硬度

考题 硅晶体半导体探测器主要用于测量()的相对剂量。A、高能X(γ)射线与低能X射线B、高能X(γ)射线与电子束C、低能X射线与电子束D、高能X射线E、低能X射线

考题 单色X射线束是()A、窄X射线束B、标识X射线束C、连续谱X射线束D、由单一波长组成的X射线束

考题 连续X射线束是()A、异种X射线束B、特征X射线束C、单一波长的X射线束D、含有多种波长的X射线束

考题 关于恒电位X射线机的叙述中,错误的是()。A、恒电位X射线机也简称为CP型X射线机B、恒电位X射线机可产生一个恒定能量的X射线束C、恒电位X射线机能提供更强的能量输出D、恒电位X射线机能延长射线管寿命和缩短曝光时间

考题 X射线成像程序可以简化为().A、X射线→被照物→信号→检测→图像形成B、被照物→X射线→信号→检测→图像形成C、X射线→被照物→检测→图像形成→信号D、被照物→X射线→检测→信号→图像形成

考题 X射线管的管电压值影响射线的哪一参数()A、X射线的穿透力B、X射线束的强度C、X射线束的能量D、X射线束的硬度

考题 如果已知等效系数,用X射线曝光曲线来代替γ射线曝光曲线,也能求出曝光参数。

考题 在x光管窗口放置滤光片的目的是()。A、产生二次射线,以增强x射线束B、滤掉短波长x射线,以获得较软的x射线C、滤掉软x射线,以获得能童比较单纯的x射线束D、使x射线束的强度容易调整

考题 每一台X射线探伤机都必须制作专用的曝光曲线,这是因为对于不同的仪器,即使高压和毫安示值相同,而所产生的X射线束的哪些参量不同?()A、低压与高压B、管电流C、曝光量D、强度和波长

考题 特征X射线束是()A、具有特定能量与波长的X射线束B、能量与波长不定的X射线束C、单一波长的X射线束D、含有多种波长的X射线束

考题 对同一台X射线探伤机,在使用一定时间后,其曝光曲线应该更新,重新制作,这是因为()A、X射线管会老化B、X射线管的真空度降低C、外部电源变化D、无需更新

考题 在工业射线探伤中,使胶片感光的主要是连续谱X射线,标识谱X射线不起什么作用。

考题 X射线管产生的一次X射线束是(),二次X射线束是()。A、连续谱+特征谱B、纯特征谱C、连续谱D、散射线

考题 X射线管产生的X射线光谱,除连续X射线光谱外,还有阳极材料所产生的()X射线光谱,且()在连续谱之上。A、特征B、叠加C、散射D、发射

考题 宽束X射线是指含有()的X射线束。

考题 判断题在工业射线探伤中,使胶片感光的主要是连续谱X射线,标识谱X射线不起什么作用。A 对B 错

考题 单选题特征X射线束是()A 具有特定能量与波长的X射线束B 能量与波长不定的X射线束C 单一波长的X射线束D 含有多种波长的X射线束

考题 判断题在紫外光曝光、X射线曝光、电子束曝光技术中可实现直写式曝光不需要掩模版的是X射线曝光技术。A 对B 错

考题 单选题单色X射线束是()A 窄X射线束B 标识X射线束C 连续谱X射线束D 由单一波长组成的X射线束

考题 单选题硅晶体半导体探测器主要用于测量()的相对剂量。A 高能X(γ)射线与低能X射线B 高能X(γ)射线与电子束C 低能X射线与电子束D 高能X射线E 低能X射线

考题 判断题如果已知等效系数,用X射线曝光曲线来代替γ射线曝光曲线,也能求出曝光参数。A 对B 错

考题 填空题宽束X射线是指含有()的X射线束。

考题 单选题连续X射线束是()A 异种X射线束B 特征X射线束C 单一波长的X射线束D 含有多种波长的X射线束

考题 单选题每一台X射线探伤机都必须制作专用的曝光曲线,这是因为对于不同的仪器,即使高压和毫安示值相同,而所产生的X射线束的哪些参量不同?()A 低压与高压B 管电流C 曝光量D 强度和波长

考题 判断题X射线的曝光曲线不能画成直线,主要是因为X射线照相中是宽束连续谱射线A 对B 错