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在射线照相中，假定照相工艺参数选择正确的情况下，一般底片模糊可能有哪些原因？请简述[提示]至少十项

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考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（）和（）。
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考题 在射线照相中必须控制曝光量。
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考题 射线照相时，位置记号铅字一般情况下均置于（）A、底片套上B、工件上面C、透度计上D、垫片上
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考题 曝光曲线在制作时往往把哪一些参数固定（）A、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、射线能量B、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、曝光量C、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、透照厚度D、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、暗室处理的工艺条件
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考题 在高能射线照相中，增感屏的增感作用主要靠前屏。
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考题 在射线照相中，Ug是确定焦距的依据。
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考题 射线照相中，使用象质计的主要目的是（）A、测量缺陷大小B、评价底片灵敏度C、测定底片清晰度D、以上都是
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考题 X射线照相中，射线穿透物体的能力取决于（）
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考题 在射线照相中，产生散射线的最主要源是（）
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考题 X射线照相检测时的工艺参数最重要的是（），（），（），（）等。
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考题 在MeV级高能射线照相中，能量越高，则照射场尺寸越大。
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考题 曝光过程中，试样或胶片偶然移动或使用焦距变小（）。A、产生射线照相底片对比度低B、不可能检出大缺陷C、产生射线照相底片不清晰D、产生发灰的射线照片
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考题 实际照相中，底片上各点的Ug值是否变化？有何规律？
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考题 在中低能量射线照相中，使用铅增感屏的底片的固有不清晰度（）。A、大于不使用铅增感屏的底片B、与不使用铅增感屏的底片相同C、小于不使用铅增感屏的底片D、以上都不对
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考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（）、（）。
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考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的清晰度、灰雾度。
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考题 在X射线照相中使用滤波板可以提高底片的（）和（）。
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考题 焊缝射线照相底片上常见缺陷（）、（）、（）和（）。
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考题 散射线对照相底片的影响主要是降低（）、（）。
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考题 射线照相中确定焦距最小值的主要原则是考虑（）A、几何模糊度B、有效透照区域C、透照物体厚度D、以上都是
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考题 填空题X射线照相中，射线穿透物体的能力取决于（）
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考题 问答题在射线照相中，假定照相工艺参数选择正确的情况下，一般底片模糊可能有哪些原因？请简述[提示]至少十项
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考题 填空题在射线照相中，产生散射线的最主要源是（）
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考题 单选题射线照相中，使用象质计的主要目的是（）A 测量缺陷大小B 评价底片灵敏度C 测定底片清晰度D 以上都是
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考题 单选题有关固有不清晰度的以下说法正确的（）A 在射线照相中的固有不清晰度是由于射线在对胶片感光时，射线触发胶片的乳剂产生了一部分光电子，然后对胶片产生感光所引起的B 一般来讲射线愈硬，固有不清晰度愈大C 在射线照相时不宜采用过硬的射线进行照相D 以上都对
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考题 单选题射线照相时，位置记号铅字一般情况下均置于（）A 底片套上B 工件上面C 透度计上D 垫片上
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考题 填空题X射线照相检测时的工艺参数最重要的是（），（），（），（）等。
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