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在射线照相中,假定照相工艺参数选择正确的情况下,一般底片模糊可能有哪些原因?请简述[提示]至少十项

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考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的()和()。

考题 在射线照相中必须控制曝光量。

考题 射线照相时,位置记号铅字一般情况下均置于()A、底片套上B、工件上面C、透度计上D、垫片上

考题 曝光曲线在制作时往往把哪一些参数固定()A、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、射线能量B、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、曝光量C、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、透照厚度D、X射线机、照相的焦距、底片黑度、所使用的胶片和增感屏、暗室处理的工艺条件

考题 在高能射线照相中,增感屏的增感作用主要靠前屏。

考题 在射线照相中,Ug是确定焦距的依据。

考题 射线照相中,使用象质计的主要目的是()A、测量缺陷大小B、评价底片灵敏度C、测定底片清晰度D、以上都是

考题 在射线照相中,使用铅箔增感屏时,铅箔被射线激发出电子使胶片加速感光

考题 X射线照相中,射线穿透物体的能力取决于()

考题 在射线照相中,产生散射线的最主要源是()

考题 在射线照相中,假定照相工艺参数选择正确的情况下,一般底片模糊可能有哪些原因?请简述[提示]至少十项

考题 X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(),(),(),()等。

考题 在MeV级高能射线照相中,能量越高,则照射场尺寸越大。

考题 实际照相中,底片上各点的Ug值是否变化?有何规律?

考题 在中低能量射线照相中,使用铅增感屏的底片的固有不清晰度()。A、大于不使用铅增感屏的底片B、与不使用铅增感屏的底片相同C、小于不使用铅增感屏的底片D、以上都不对

考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的()、()。

考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的清晰度、灰雾度。

考题 在X射线照相中使用滤波板可以提高底片的()和()。

考题 焊缝射线照相底片上常见缺陷()、()、()和()。

考题 散射线对照相底片的影响主要是降低()、()。

考题 射线照相中确定焦距最小值的主要原则是考虑()A、几何模糊度B、有效透照区域C、透照物体厚度D、以上都是

考题 填空题X射线照相中,射线穿透物体的能力取决于()

考题 填空题在射线照相中,产生散射线的最主要源是()

考题 单选题射线照相中,使用象质计的主要目的是()A 测量缺陷大小B 评价底片灵敏度C 测定底片清晰度D 以上都是

考题 单选题有关固有不清晰度的以下说法正确的()A 在射线照相中的固有不清晰度是由于射线在对胶片感光时,射线触发胶片的乳剂产生了一部分光电子,然后对胶片产生感光所引起的B 一般来讲射线愈硬,固有不清晰度愈大C 在射线照相时不宜采用过硬的射线进行照相D 以上都对

考题 单选题射线照相时,位置记号铅字一般情况下均置于()A 底片套上B 工件上面C 透度计上D 垫片上

考题 填空题X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(),(),(),()等。