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用对照分析法可以校正由于仪器不精密所造成的误差。（）

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考题 可以减少偶然误差的方法是() A、进行仪器校正B、作对照试验C、作空白试验D、增加平行测定次数
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考题 用对照分析法可以校正由仪器不够准确所引起的误差。此题为判断题(对，错)。
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考题 系统误差可以用对照试验、空白试验、（）等方法加以校正。A.多次平行测定B.二次平行试验C.校正仪器D.滴定试验
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考题 仪器误差可以用对照试验的方法来校正。此题为判断题(对，错)。
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考题 下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是( )A.系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B.系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C.仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D.重量分析中，由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差
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考题 系统误差可以用( )、空白试验、校正仪器等方法加以校正。A.对照试验B.滴定试验C.多次平行测定D.二次平行测定
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考题 由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差，应通过()来消除。A.对照分析B.空白试验C.增加平行试验D.校正仪器
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考题 可用于减免偶然误差的方法为A:提高仪器精度 B:多次测量，求平均值 C:空白试验 D:与对照品平行操作 E:将结果用校正公式校正
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考题 试剂和器皿带进杂质所造成的误差可用（）消除。A对照试验B空白试验C校正试验
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考题 仪器误差可以用对照试验的方法来校正
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考题 用对照分析法可以校正由仪器不够准确所引起的误差
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考题 下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是（）A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D、重量分析中，由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差
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考题 由于分析方法本身不够完善所造成的误差称为（）。A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、操作误差
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考题 下列关于系统误差产生原因说法不正确的是（）。A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、系统误差可以由仪器本身不够精密或未经校正等原因而引起D、在滴定分析中，滴定终点和理论终点不符合不会产生系统误差
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考题 系统误差可以用（）、空白试验、校正仪器等方法加以校正。A、对照试验B、滴定试验C、多次平行测定D、二次平行测定
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考题 系统误差可以用对照试验、空白试验、（）等方法加以校正。A、多次平行测定B、二次平行试验C、校正仪器D、滴定试验
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考题 下列造成误差的原因中，属于系统误差的是（）。A、蒸馏水不纯造成的误差B、仪器精密度不够造成的误差C、温度偏低造成的误差D、由于分析人员的主观因素所造成的操作误差
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考题 用对照分析可以校正由于仪器不精密所造成的误差。
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考题 用对照分析法可以校正由（）不够准确所引起的误差。
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考题 在分析工作中，由于所使用的温度计未经校正而引起的误差，属于（）误差。A、操作B、仪器C、方法D、试剂
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考题 对照试验可以校正由仪器不精密所造成的误差。
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考题 由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差，应通过（）来消除。A、对照分析B、空白试验C、增加平行试验D、校正仪器
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考题 在分析测定中，一般要进行（）可消除偶然误差，提高精密度。A、空白实验B、校正仪器C、多次实验D、对照实验
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考题 基准物质不纯所引起的试剂误差一般用对照试验进行校正。
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考题 单选题由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差，应通过（）来消除。A 对照分析B 空白试验C 增加平行试验D 校正仪器
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考题 判断题用对照分析法可以校正由仪器不够准确所引起的误差A 对B 错
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考题 判断题仪器误差可以用对照试验的方法来校正A 对B 错
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