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X射线光谱分析中是以特征光谱线为()


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考题 初级X射线是以高速()流为激发源产生的。

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考题 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应,只能校正增强效应。

考题 简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求?

考题 波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。

考题 X射线荧光光谱分析中,适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。

考题 X射线荧光光谱分析中,对于不同元素的同名谱线,随着原子序数的增加,波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点,主要是由各种元素的化学成分决定的。

考题 光电直读光谱和X射线萤光光谱分析都属于()分析法。

考题 以下说法错误的是()A、X射线荧光光谱分析时,枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时,严禁雨天在室外进行光谱分析工作,避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时,严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时,人和机器要有防坠装置

考题 在X射线荧光光谱分析法中,除存在谱线重迭干扰外还存在()干扰。

考题 X射线荧光光谱分析中,当基体效应是增强效应时,将使所得被测元素的结果偏低。

考题 X射线荧光光谱分析中,各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长,随原子序数的大小而变化,与管电压和管电流的大小也有关。

考题 简答X射线萤光光谱分析的基本原理。

考题 X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。

考题 简述X射线荧光光谱分析的优点。

考题 X射线荧光光谱分析中,X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。

考题 X射线光谱分析中是以()为分析依据的。A、连续光谱B、特征光谱C、锐线光源D、高速电子流

考题 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底(背景)为内标的校正方法。

考题 在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

考题 在X射线光谱分析中,光管产生的X射线波长应()样品中待测元素的X射线波长。A、小于B、等于C、大于

考题 在X射线荧光光谱分析中,制作玻璃片使用的坩埚及模具的材料主要是()其比例是95%:5%。

考题 由X射线光管产生的X射线是()。A、连续X射线B、特征X射线C、连续X射线和特征X射线

考题 进行X射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。

考题 下列几种射线中哪些是从原子核中发射出来的?()A、x射线B、γ射线C、光谱线D、α射线

考题 单选题油料光谱分析法按应用可分为()光谱分析。 Ⅰ.原子吸收; Ⅱ.发射; Ⅲ.X射线荧光。A Ⅰ+ⅡB Ⅰ+ⅢC Ⅱ+ⅢD Ⅰ+Ⅱ+Ⅲ

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