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X射线法分析生铁中的锰元素,所用检测器是()。

  • A、闪烁计数器
  • B、气流式正比计数器
  • C、封闭式正比计数器

参考答案

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考题 常用场所辐射监测仪中灵敏度最高的是()A、电离室B、正比计数器C、GM计数器D、闪烁探测器E、半导体探测器

考题 高强度辐射场中进行精确剂量测量应使用()A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器

考题 灵敏度最低的是()A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器

考题 以下哪个不是波长色散X射线荧光光谱仪所用的探测器?()A、封闭式正比计数器B、流气式正比计数器C、闪烁计数器D、半导体计数器

考题 正比计数器(流气式或封闭式)、()、和半导体计数器是X射线光谱分析中常用的三种探测器。

考题 在正比计数器内,甲烷气体的作用是()A、保护气B、猝灭气体C、探测气体。

考题 正比计数器中的()作为淬灭气体。A、氩气B、甲烷C、PR气

考题 正比计数器输出脉冲高度(电压,V)与入射X射线的光子能量成正比。

考题 波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是()计数器,用于探测轻元素X射线荧光是()正比计数器,封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管

考题 以下哪一种探测器,不是利用射线在空气中电离效应原理()A、电离室B、正比计数器C、盖革-弥勒记数管D、闪烁探测器

考题 用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有:()A、Si-PIN探测器B、Si(Li)探测器C、硅漂移探测器(SDD)D、正比计数器

考题 X荧光仪中探测器通常采用()A、光电倍增管B、闪烁计数器C、正比计数器D、NaCl晶体

考题 正比计数器内充入的Ar气的主要作用是:()。

考题 X荧光分析中不常使用的探测器是()。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、硅(锂)探测器

考题 在X荧光分析中不常使用的探测器是()。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、半导体探测器

考题 X射线荧光分析所用的闪烁计数器由闪烁体、光导、()、及相关电路组成。

考题 X荧光光谱仪探测器的分辨率R=Q,Q为品质因子,当计数率<20kcps时,闪烁计数器的Q<(),充Ar流气正比计数器的Q<()。

考题 常用的X射线正比计数器分为()和()两大类,。

考题 X射线可用下列哪种方式检测?()A、硒光电池B、光电倍增管C、热电偶D、气体正比计数器

考题 X-荧光波谱分析仪(品位仪)的检测器一般有()A、正比计数器B、闪烁计数器C、光电倍增管

考题 正比计数器和闪烁计数器是利用光的()来计数的。A、电磁波性B、粒子性

考题 X-荧光波谱分析仪(品位仪)的检测器一般有()A、正比计数器B、闪烁计数器C、光电倍增管D、数码管

考题 正比计数器的里的充气是纯气。

考题 单选题以下哪一种探测器,不是利用射线在空气中电离效应原理()A 电离室B 正比计数器C 盖革-弥勒记数管D 闪烁探测器

考题 问答题简要叙述半导体探测器的能量分辨率明显优于正比计数器和闪烁计数器的主要原因。

考题 单选题利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光,而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为()A 正比计数器B 盖革计数器C 闪烁计数器D 锂漂移硅检测器

考题 单选题以气体电离为基础制造的计数器是()A 正比计数器B 盖革计数器C 闪烁计数器D A和B