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在X荧光分析中不常使用的探测器是()。

  • A、正比计数器
  • B、闪烁计数器
  • C、晶体计数器
  • D、半导体探测器

参考答案

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考题 在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。

考题 以下说法错误的是()A、X射线荧光光谱分析时,枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时,严禁雨天在室外进行光谱分析工作,避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时,严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时,人和机器要有防坠装置

考题 用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有:()A、Si-PIN探测器B、Si(Li)探测器C、硅漂移探测器(SDD)D、正比计数器

考题 波长色散X射线荧光光谱仪上,在晶体和探测器之间的光束是()光束。A、混合B、连续C、单色D、散射

考题 在能量色散X射线荧光光谱仪上,探测器接收到的是()光束。A、混合B、特征C、连续D、散射

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考题 在原子荧光分析法中,多数情况下使用的是()荧光,它是由于()产生的,使用多的原因是由于()。

考题 在X射线荧光分析中把X射线光子能量转换成电信号的装置是()。A、分光晶体B、探测器C、波高分析器D、放大器

考题 X射线荧光光谱仪探测器的作用是:()。

考题 在X射线荧光光谱分析中,制作玻璃片使用的坩埚及模具的材料主要是()其比例是95%:5%。

考题 X荧光分析中不常使用的探测器是()。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、硅(锂)探测器

考题 X射线荧光光谱仪探测器的主要技术指标是()。

考题 X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与()之间。A、X射线管B、晶体C、探测器

考题 在X射线荧光分析法中,X荧光是指()。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线

考题 在扫描型波长色散X射线荧光光谱仪中一般都采用SC和FPC两种探测器探测器。

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考题 CR中可记录与读出X线影像信息的载体是()。A、胶片B、磁盘C、IP板D、荧光屏E、平板探测器

考题 CR系统中,直接记录X线影像信息的载体是()A、胶片B、磁盘C、成像板D、荧光屏E、平板探测器