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引起金属应变片电阻变化的主要原因是金属丝电阻率的变化。


参考答案和解析
金属材料几何尺寸的变化
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考题 外力引起电阻率变化的元件是______。A.金属电阻应变片B.半导体电阻应变片C.压电元件D.霍尔元件

考题 金属丝应变片在测量某一构件的应变时,引起其电阻相对变化的原因为()。 A、金属丝几何尺寸的变化B、金属丝材料弹性模量的变化C、金属丝电阻率的变化D、金属丝压阻系数的变化

考题 以下属于应变计温度误差产生的原因是( )。 A.应变式温度传感器件的温度系数变化B.应变式温度传感器件的测量部分引起的C.应变式温度传感器件对温度应变不敏感引起的D.敏感栅金属丝电阻本身随温度发生变化

考题 试比较金属丝电阻应变片与半导体应变片的特点。

考题 电阻应变片的灵敏度系数K指的是(  )。 A、应变片电阻值的大小 B、单位应变引起的应变片相对电阻值变化 C、应变片金属丝的截面积的相对变化 D、应变片金属丝电阻值的相对变化

考题 半导体应变片主要是利用半导体材料的()A、形变B、电阻率的变化C、弹性模量的变化D、泊松比的变化

考题 金属电阻应变片与半导体应变片的物理基础的区别在于:前者利用金属的()引起的电阻变化,后者利用半导体材料的电阻率变化引起的电阻变化。

考题 金属丝的电阻应变效应中,引起电阻改变的主要原因是电阻率的改变

考题 金属应变片与半导体应变片在工作原理上都是利用金属形变引起电阻的变化。

考题 金属电阻应变片与半导体应变片的主要区别在于:前者利用()引起的电阻变化,后者利用()变化引起的电阻变化。

考题 金属丝应变片在测量某一构件的应变时,引起电阻的相对变化主要由()。A、贴片位置的温度变化B、电阻丝几何尺寸的变化C、电阻材料的电阻率的变化D、电阻截面积

考题 当测量较小应变值时,应选用()工作的应变片,而测量大应变值时,应选用压阻效应工作的应变片,后者应变片阻值的相对变化主要由材料电阻率的相对变化来决定。

考题 金属电阻应变片的电阻相对变化主要是由于电阻丝的()变化产生的。A、尺寸B、电阻率C、形状D、材质

考题 金属丝应变片在测量构件的应变时,电阻的相对变化主要由()来决定的。A、贴片位置的温度变化B、电阻丝几何尺寸的变化C、电阻丝材料的电阻率变化

考题 金属丝应变片在测量某一构件的应变时,其电阻的相对变化主要由()来决定。A、贴片位置的温度变化B、电阻丝几何尺寸的变化C、电阻材料电阻率的变化D、以上均可

考题 金属应变片工作原理是利用()效应;半导体应变片工作原理是利用()效应。二者灵敏系数主要区别是:金属应变片的电阻变化主要由()引起的,半导体应变片的电阻变化主要由()引起的。

考题 金属丝的灵敏系数,其物理意义是:单位应变所引起的电阻相对变化。

考题 以下属于应变计温度误差产生的原因是()。A、应变式温度传感器件的温度系数变化。B、应变式温度传感器件的测量部分引起的。C、应变式温度传感器件对温度应变不敏感引起的。D、敏感栅金属丝电阻本身随温度发生变化。

考题 金属电阻应变片由于温度变化导致其电阻值发生变化的原因是什么?以及相应的补偿措施?

考题 金属电阻应变片受力会产生电阻值的变化,其主要原因是()A、压阻效应B、压磁效应C、压电效应D、电阻丝的几何尺寸变化

考题 电阻应变式扭矩传感器在测量时会引起应变片的哪个物理量发生变化()。A、磁导率B、热导率C、电阻率D、介电常数

考题 使用金属丝式电阻应变片测量构件应力时,当应力发变化生时,则应变片的()发生变化。A、电阻B、长度C、电阻和长度D、灵敏系数

考题 单选题金属丝应变片在测量构件的应变时,电阻的相对变化主要由()来决定的。A 贴片位置的温度变化B 电阻丝几何尺寸的变化C 电阻丝材料的电阻率变化

考题 判断题金属丝的电阻应变效应中,引起电阻改变的主要原因是电阻率的改变A 对B 错

考题 填空题当测量较小应变值时,应选用电阻应变效应工作的应变片,而测量大应变值时,应选用()效应工作的应变片,后者应变片阻值的相对变化主要由材料电阻率的相对变化来决定。

考题 单选题电阻应变片的灵敏度系数K指的是()。A 应变片电阻值的大小B 单位应变引起的应变片相对电阻值变化C 应变片金属丝的截面积的相对变化D 应变片金属丝电阻值的相对变化

考题 单选题金属应变片和半导体应变片主要区别描述错误的是()A 金属应变片主要利用压阻效应B 金属应变片主要利用导体几何尺寸变换引起电阻变化C 半导体应变片主要利用电阻率变化引起电阻变化D 半导体应变片相比金属应变片的灵敏度高,但非线性误差大。

考题 填空题金属电阻应变片与半导体应变片的物理基础的区别在于:前者利用金属的()引起的电阻变化,后者利用半导体材料的电阻率变化引起的电阻变化。