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金属电阻应变片的电阻相对变化主要是由于电阻丝的（）变化产生的。

  • A、尺寸
  • B、电阻率
  • C、形状
  • D、材质

参考答案

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考题 电阻应变片的电阻相对变化率与（）成正比。
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考题 沿应变片轴向的应变ex必然引起应变片电阻的相对变化，而沿垂直于应变片轴向的横向应变ey也会引起其电阻的相对变化，这种现象称为（）。
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考题 粘贴到试件上的电阻应变片，环境温度变化会引起电阻的相对变化，产生虚假应变，这种现象称为温度效应，简述产生这种现象的原因。
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考题 金属电阻应变片与半导体应变片的主要区别在于：前者利用（）引起的电阻变化，后者利用（）变化引起的电阻变化。
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考题 金属丝应变片在测量某一构件的应变时，引起电阻的相对变化主要由（）。A、贴片位置的温度变化B、电阻丝几何尺寸的变化C、电阻材料的电阻率的变化D、电阻截面积
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考题 金属电阻丝应变片与半导体应变片在工作原理上有何区别？各有何特点？在用应变仪测量机构的应力，应变时，如何消除由于温度变化所产生的影响？
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考题 电阻应变片的电阻相对变化率是与（）成正比的。
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考题 金属丝应变片在测量构件的应变时，电阻的相对变化主要由（）来决定的。A、贴片位置的温度变化B、电阻丝几何尺寸的变化C、电阻丝材料的电阻率变化
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考题 金属丝应变片在测量某一构件的应变时，其电阻的相对变化主要由（）来决定。A、贴片位置的温度变化B、电阻丝几何尺寸的变化C、电阻材料电阻率的变化D、以上均可
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考题 电阻丝应变片结构中的敏感栅能把感受到的应变转换为应变片本身（）变化.A、电阻B、体积C、质量D、密度
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考题 金属电阻应变片的结构为（）。A、基座B、电阻丝C、覆盖层D、引线
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考题 金属电阻应变片由于温度变化导致其电阻值发生变化的原因是什么？以及相应的补偿措施？
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考题 金属电阻应变片受力会产生电阻值的变化，其主要原因是（）A、压阻效应B、压磁效应C、压电效应D、电阻丝的几何尺寸变化
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考题 由于测量现场环境温度的改变，而引起应变片电阻的附加相对变化量，称为（），因此而给测量带来的附加误差 ，称为应变片的（），又叫应变片的（）。产生上述现象的原因是由于阻丝（）的存在和试件与电阻丝材料（）的不同。
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考题 单选题金属丝应变片在测量构件的应变时，电阻的相对变化主要由（）来决定的。A 贴片位置的温度变化B 电阻丝几何尺寸的变化C 电阻丝材料的电阻率变化
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考题 问答题粘贴到试件上的电阻应变片，环境温度变化会引起电阻的相对变化，产生虚假应变，这种现象称为温度效应，简述产生这种现象的原因。
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考题 单选题金属电阻应变片受力会产生电阻值的变化，其主要原因是（）A 压阻效应B 压磁效应C 压电效应D 电阻丝的几何尺寸变化
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考题 单选题电阻应变片的灵敏度系数K指的是（）。A 应变片电阻值的大小B 单位应变引起的应变片相对电阻值变化C 应变片金属丝的截面积的相对变化D 应变片金属丝电阻值的相对变化
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考题 单选题金属应变片和半导体应变片主要区别描述错误的是（）A 金属应变片主要利用压阻效应B 金属应变片主要利用导体几何尺寸变换引起电阻变化C 半导体应变片主要利用电阻率变化引起电阻变化D 半导体应变片相比金属应变片的灵敏度高，但非线性误差大。
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考题 填空题沿应变片轴向的应变ex必然引起应变片电阻的相对变化，而沿垂直于应变片轴向的横向应变ey也会引起其电阻的相对变化，这种现象称为（）。
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考题 问答题金属电阻应变片由于温度变化导致其电阻值发生变化的原因是什么？以及相应的补偿措施？
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考题 填空题金属电阻应变片与半导体应变片的物理基础的区别在于：前者利用金属的（）引起的电阻变化，后者利用半导体材料的电阻率变化引起的电阻变化。
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