考题
THDS-A红外轴温探测系统盘温正常值范围是（），应比环温高0～+20℃。A、-20～40℃B、-30～50℃C、-40～60℃D、-50～60℃
考题
THDS-A红外轴温探测系统光子探头调制盘频率正常值是（）。A、3255±20Hz或3215±20HzB、3255±30Hz或3215±30HzC、3255±40Hz或3215±40HzD、3255±50Hz或3215±50Hz
考题
（康拓）THDS-A系统光子探头静态轴温正常值是-5V±1V。
考题
THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统外探探头在晴朗天空下，天空值出现高值，有可能是（）所致。A、阳光干扰B、轴温高C、轴温低D、探头异常
考题
THDS-A红外轴温探测系统热敏探头静态轴温正常值是（）。A、0V±0、3VB、0V±1VC、0V±1、5VD、0V±2V
考题
THDS-A红外轴温探测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A、（环温-50）±15℃B、（环温-50）±20℃C、（环温-50）±25℃D、（环温-50）±30℃
考题
THDS-A红外轴温探测系统中轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同划分为（）和（）
考题
THDS-A红外轴温探测系统探头按工作方式可划分为（）探头和直流探头。A、脉冲B、调制C、感应D、接触
考题
THDS-A红外轴温探测系统中功放板可以实现对下列（）部件的电源控制。A、光子探头B、热敏探头C、调制盘电机D、挡板电机E、热靶
考题
THDS-A红外轴温探测系统中，热靶大门组合件为（）提供温度基准。A、轴温计算B、热靶标定C、系统标定D、探头标定
考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是器温-100℃，且制冷电流正常，可能出现问题的部件中不可能有（）A、光子探头B、测温板C、热敏探头D、温控板
考题
THDS-A红外轴温探测系统校零板的作用是（）A、对热靶温度进行校零B、对光子探头的光子器件温度进行校零C、对制热敏探头的挡板温度进行校零D、对热敏探头输出电压进行校零
考题
THDS-A红外轴温探测系统IPC工作模块的实时数据显示区中，（）状态信息不属于内探光子探头的状态信息。A、左板温B、左靶温C、左器温D、左器流
考题
THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（）控制的。A、测温板B、温控板C、调理板D、功放板
考题
THDS-A红外轴温探测系统校零板实现对两个（）校零的电路板。A、光子探头B、热敏探头C、热靶D、碲镉汞光子器件
考题
THDS-A红外轴温测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A、（环温-50）±15℃B、（环温-50）±20℃C、（环温-50）±25℃D、（环温-50）±30℃
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统校零板实现对两个（）校零的电路板。A
光子探头B
热敏探头C
热靶D
碲镉汞光子器件
考题
单选题THDS-A红外轴温测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A
（环温-50）±15℃B
（环温-50）±20℃C
（环温-50）±25℃D
（环温-50）±30℃
考题
单选题（康拓）THDS-A系统光子探头静态轴温正常值是（）。A
-5V±1VB
-4V±1VC
-5V±1.5VD
-5V±2V
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统盘温正常值范围是（），应比环温高0～+20℃。A
-20～40℃B
-30～50℃C
-40～60℃D
-50～60℃
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统外探探头在晴朗天空下，天空值出现高值，有可能是（）所致。A
阳光干扰B
轴温高C
轴温低D
探头异常
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（）控制的。A
测温板B
温控板C
调理板D
功放板
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统光子探头校零时测得的电压正常值为（）。A
1V±0.2VB
1V±1.0VC
1V±1.5VD
1V±2.0V
考题
填空题THDS-A红外轴温探测系统中轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同划分为（）和（）
考题
判断题（康拓）THDS-A系统光子探头静态轴温正常值是-5V±1V。A
对B
错
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A
（环温-50）±15℃B
（环温-50）±20℃C
（环温-50）±25℃D
（环温-50）±30℃
考题
多选题THDS-A红外轴温探测系统中功放板可以实现对下列（）部件的电源控制。A光子探头B热敏探头C调制盘电机D挡板电机E热靶
